[发明专利]存储器系统、存储器测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种存储器测试系统，包括：

存储器器件；

测试器，所述测试器产生时钟信号和用于测试所述存储器器件的 测试信号；以及

光分路模块，所述光分路模块包括电-光信号转换单元、光信号分 路单元以及光-电信号转换单元，所述电-光信号转换单元将所述时钟信 号和所述测试信号中的每个转换成光信号，以将所述时钟信号和所述 测试信号输出为光时钟信号和光测试信号，所述光信号分路单元将所 述光时钟信号和所述光测试信号中的每个分路成n个信号，n为至少2 个，所述光-电信号转换单元接收分路的光时钟信号和分路的光测试信 号，以将所述分路的光时钟信号和所述分路的光测试信号转换成所述 存储器器件中使用的电信号。

2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，还包括一个或多个附 加存储器器件，其中，所述存储器测试系统同时对所述存储器器件和 所述一个或多个附加的存储器器件中的至少一个附加存储器器件执行 测试。

3.根据权利要求2所述的存储器测试系统，其中，所述光-电信号 转换单元包括多个光-电信号转换器，所述光-电信号转换器的数目与所 述存储器器件的数目相等。

4.根据权利要求3所述的存储器测试系统，其中，所述电-光信号 转换单元转换时钟信号和m个测试信号，以及所述光信号分路单元包 括针对至少一个时钟信号的至少一个光信号分路器以及与所述m个测 试信号相对应的m个光信号分路器。

5.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，所述存储器器 件是封装或晶片的一部分。

6.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，所述光-电信号 转换单元包括电压电平转换器，所述电压电平转换器对由所述光-电信 号转换器转换成所述电信号的所述时钟信号和所述测试信号的电压电 平进行转换，以便与所述存储器器件的操作电压的电压电平相对应。

7.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，所述存储器器 件是晶片上的第一芯片，并且所述存储器测试系统还包括所述晶片上 的一个或多个附加芯片，其中，所述存储器测试系统同时对所述第一 芯片以及所述一个或多个附加芯片中的至少一个附加芯片执行测试。

8.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，所述电-光信号 转换单元经由波导连接到所述光信号分路单元，以及所述光信号分路 单元经由波导连接到所述光-电信号转换单元。

9.一种测试多个集成电路器件的方法，所述方法包括：

产生用于测试所述集成电路器件的时钟信号和测试信号；

将所述时钟信号和所述测试信号转换成光信号，并且将所述时钟 信号和所述测试信号输出为光时钟信号和光测试信号；

将所述光时钟信号分路；

将所述光测试信号分路；

接收分路的光信号，以及将所述分路的光信号中的每个重新转换 成电信号；以及

通过使用重新转换的时钟信号和测试信号，同时对所述多个集成 电路器件执行测试。

10.一种存储器系统，包括：

至少一个存储器器件；

存储器控制器，所述存储器控制器产生用于控制所述至少一个存 储器器件的时钟信号以及控制信号；

光分路模块，包括：

电-光信号转换单元，所述电-光信号转换单元将所述时钟信 号和所述控制信号中的每个转换成光信号，并且将所述时钟信号和所 述控制信号输出为光时钟信号和光控制信号；

光信号分路单元，所述光信号分路单元将所述光时钟信号和 所述光控制信号分路成n个信号，n为2或更多；以及

光-电信号转换单元，所述光-电信号转换单元接收分路的光时钟信 号和光控制信号，并且将所述分路的光时钟信号和光控制信号转换成 在至少一个存储器器件中使用的电信号。

11.根据权利要求10所述的存储器系统，其中，所述控制信号包 括命令和地址中的一个或多个。