[发明专利]半导体器件无效

专利信息
申请号: 201010002087.8 申请日: 2010-01-11
公开(公告)号: CN101794758A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 河野贤哉;芦田喜章;武藤邦治;清水一男;井上富文 申请(专利权)人: 株式会社瑞萨科技
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L23/488;H01L23/367
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种半导体器件。通过销钉加工在源极引线(14)上设置突起(7),以在突起(7)上连接接合线(4)时防止超声波衰减为目的,在源极引线(14)的背面的凹部(20)设置支柱(16),从而防止接合线(4)与源极引线(14)的连接强度不够。另外,围绕源极引线(14)和接合线(4)的连接部而在突起(7)上设置连续的台阶(17),防止由树脂(6)和源极引线(14)的分离引起的接合线(4)的断线。根据本发明,能够使用可简单加工且廉价制造的装置来实现防止由树脂(6)和引线框的界面分离引起的接合线(4)的断线、以及连接强度的提高。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
一种半导体器件,包括:引线框,具有压料垫部和配置在上述压料垫部附近的第一引线;装载在上述压料垫部上的半导体芯片;接合线,使形成在上述半导体芯片的表面上的电极和上述第一引线电连接;以及树脂,对上述半导体芯片、上述引线框、上述第一引线以及上述接合线进行密封,上述半导体器件的特征在于,在上述第一引线和上述接合线的连接面上,在上述第一引线的上表面设置有成为上述接合线的接合部的突起,并在上述突起的背面的一部分上形成有凹部。
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