[发明专利]具波导管的半导体元件结构与形成方法无效
申请号: | 201010001543.7 | 申请日: | 2010-01-08 |
公开(公告)号: | CN102122644A | 公开(公告)日: | 2011-07-13 |
发明(设计)人: | 苏宗一;王铭义;蓝邦强;廖德淦;苏昭安;黄建欣;吴惠敏;谭宗涵;陈敏;林梦嘉 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/13 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种具波导管的半导体元件结构与形成方法。首先提供定义有元件区与波导管区的硅覆绝缘基板,其包含硅基底、绝缘层与硅层。接着依序形成保护层以及覆盖波导管区并曝露元件区的图案化掩模层。接着蚀刻保护层、硅层及绝缘层以形成凹槽,并暴露出硅基底。随后于凹槽内形成外延层,再于外延层上形成半导体元件。本发明解决已知将半导体元件整合制作于硅覆绝缘基板的半导体元件电性不佳问题。 | ||
搜索关键词: | 波导管 半导体 元件 结构 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种具波导管的半导体元件结构形成方法,该方法包含至少下列步骤:提供硅覆绝缘基板,该硅覆绝缘基板上定义有元件区与波导管区,且该硅覆绝缘基板包含硅基底、覆盖于该硅基底上的绝缘层,以及覆盖于该绝缘层上的硅层;形成保护层于该硅覆绝缘基板上;于该硅覆绝缘基板上形成图案化掩模层,覆盖该波导管区并曝露该元件区;利用蚀刻步骤,蚀刻该保护层、该硅层及该绝缘层以形成凹槽,并暴露出该硅基底;进行外延工艺,以于该凹槽内形成外延层;以及于该外延层上形成半导体元件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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