[发明专利]光学特性测量系统与方法无效
| 申请号： | 200910311948.8 | 申请日： | 2009-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN102103034A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 叶肇懿;黄仲志;颜荣毅 | 申请（专利权）人： | 富士迈半导体精密工业（上海）有限公司;沛鑫能源科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201600 上海市松江区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种光学特性测量系统，包括一聚光元件、一用于把持所述聚光元件的把持部、一用于获取光斑的影像处理装置、一用于承放所述影像处理装置的承载台和一测量仪，所述承载台与所述把持部相对并可相对于把持部移动，以调整光线通过所述聚光元件在所述影像处理装置的光斑大小，所述测量仪用于在所述影像处理装置获取最小光斑时，记录所述聚光元件与所述影像处理装置间的距离。上述光学特性测量系统与方法，通过影像处理装置获取影像信息，再通过显示装置观测影像处理装置上的光斑，可以便捷、直观地影像处理装置获得最小光斑的位置，从而准确测得聚光元件的实际焦距。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 特性 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种光学特性测量系统，其特征在于：所述测量系统包括一聚光元件、一用于把持所述聚光元件的把持部、一用于获取光斑的影像处理装置、一用于承放所述影像处理装置的承载台和一测量仪，所述承载台与所述把持部相对并可相对于把持部移动，以调整光线通过所述聚光元件在所述影像处理装置的光斑大小，所述测量仪用于在所述影像处理装置获取最小光斑时，记录所述聚光元件与所述影像处理装置间的距离。
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