[发明专利]一种利用钽金属制作薄膜射频陶瓷功率器件的工艺无效
申请号: | 200910251460.0 | 申请日: | 2009-12-23 |
公开(公告)号: | CN102108030A | 公开(公告)日: | 2011-06-29 |
发明(设计)人: | 方超;周永胜 | 申请(专利权)人: | 安徽信安通讯技术有限公司 |
主分类号: | C04B41/89 | 分类号: | C04B41/89;C04B35/10;C04B35/581;C04B35/08;C23C14/35;C23C14/18 |
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地址: | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明涉及了利用钽制成薄膜射频功率器件的工艺,钽膜的厚度在150nm左右,紧密附着在陶瓷上。由于处理过的钽膜在150度以内时,非常稳定,所以采用本工艺制成的陶瓷功率器件,具有功率大,体积小,常温下耐酸、耐碱、耐湿,高频回波低,电阻温度系数低等优势。相比较传统厚膜电子器件而言:安装简单,体积小,寿命长,可靠性好。而厚膜是利用钌金属及其氧化物,再加上玻璃成分,混合制成浆料,由它制作成的电子器件,厚度和散热性能,比薄膜相差很多。利用本发明工艺可以生产功率电阻、衰减器类,大容量电容、电感类电子基础产品。目前只有国外有此工艺技术,但可惜国内还没有成熟的工艺。本发明工艺流程可以大大提高这类产品的国产化进程,提高产品的合格率;并且衍生出大量的实用电子产品,如薄膜/混合集成电路等,打破国外的垄断。 | ||
搜索关键词: | 一种 利用 金属 制作 薄膜 射频 陶瓷 功率 器件 工艺 | ||
【主权项】:
利用真空磁控溅射方式,在陶瓷基体上沉积钽金属薄膜,薄膜厚度为纳米级的工艺流程;
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