[发明专利]光酸产生剂、共聚物、抗蚀剂组合物及使用所述抗蚀剂组合物形成图形的方法无效

专利信息
申请号: 200910171536.9 申请日: 2009-08-28
公开(公告)号: CN101750888A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 吴贞薰;金相珍;金真湖;申大铉 申请(专利权)人: 韩国锦湖石油化学株式会社
主分类号: G03F7/004 分类号: G03F7/004;G03F7/039;G03F7/00;G03F7/20
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供了一种光酸产生剂、共聚物、化学放大型抗蚀剂组合物和使用所述化学放大型抗蚀剂组合物形成图形的方法。所述光酸与所述共聚物的主链有联系,借此,所述光酸被等同地分散在抗蚀剂层内部,且抗蚀剂图形的线边缘粗糙度的特性被提高。
搜索关键词: 产生 共聚物 抗蚀剂 组合 使用 述抗蚀剂 形成 图形 方法
【主权项】:
1.一种由化学式1表示的光酸产生剂,[化学式1]其中,R1是一个氢原子、三氟甲基、C1-C5烷基或C1-C5烷氧基,R2和R3分别是线性或支化型C1-C20烷基、芳基、线性或支化型C1-C20全氟化烷基、苄基或C6-C20芳基,且A-是由化学式2表示的化合物,[化学式2]其中,X1是单环或多环的C3-C20烃基、苄基、C6-C20芳基、C1-C10烷基、C1-C10烷氧基、C1-C10羟烷基或氰基,所述单环或多环的C3-C20烃基中的至少一个氢原子被或不被醚基、酯基、羰基、缩醛基、腈基、氰基、羟基、羧基或醛基所取代,R是C1-C10烷基、C1-C10烷氧基、氮原子、硫原子或氧原子,且m是0到2的正整数。
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