[发明专利]方位角计测装置有效

专利信息
申请号: 200910142644.3 申请日: 2004-12-17
公开(公告)号: CN101586958A 公开(公告)日: 2009-11-25
发明(设计)人: 疋田浩一;北村徹;山下昌哉 申请(专利权)人: 旭化成电子材料元件株式会社
主分类号: G01C17/38 分类号: G01C17/38;G01R33/02
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供方位角计测装置,其在特定方向上将姿势保持一定来变化的情况下,不获取错误的偏移信息,在任意的方向上变化时,能够得到相当的偏移信息。数据处理部(19)处理来自检测地磁的3轴的传感器的数据。在处理部(19)中,以大于等于规定次数反复获取方位角计测装置的朝向在3维空间中变化时的3轴输出数据,在将3轴输出数据作为各轴方向成分的3维坐标上,通过统计方法推算与3轴输出数据群的距离的标准离差最小的位置的坐标,并作为基准点,根据基准点的坐标,算出3轴输出数据的偏移信息,判断3轴输出数据群是否分布在特定的平面附近,在判断为3轴输出数据群分布在特定的平面附近的情况下,不进行基准点的坐标的推算,或者进行舍弃已推算的基准点坐标的处理。
搜索关键词: 方位角 装置
【主权项】:
1.一种方位角计测装置,其特征在于,具有:检测地磁的3轴的地磁检测单元;输出数据获取单元,其按照大于等于规定次数,反复获取所述地磁检测单元的朝向在3维空间中变化时的来自所述地磁检测单元的3轴输出数据;平面推算单元,其在将所述3轴输出数据作为各轴方向成分的3维坐标上,推算使所述输出数据获取单元所得到的3轴输出数据群位于附近的平面,并将其作为基准平面;临时基准点推算单元,其通过统计方法推算在所述平面推算单元所得到的基准平面上,与所述输出数据获取单元所得到的3轴输出数据群投影在所述基准平面上的投影点群的距离的标准离差最小的位置的坐标,并将其作为临时基准点;基准点校正单元,其对所述临时基准点推算单元所得到的临时基准点进行校正,并将其作为基准点;以及偏移信息算出单元,其根据所述基准点校正单元所得到的基准点的坐标,算出相对于所述地磁检测单元的输出数据的偏移信息。
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