[发明专利]方位角计测装置有效
| 申请号： | 200910142644.3 | 申请日： | 2004-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN101586958A | 公开（公告）日： | 2009-11-25 |
| 发明（设计）人： | 疋田浩一;北村徹;山下昌哉 | 申请（专利权）人： | 旭化成电子材料元件株式会社 |
| 主分类号： | G01C17/38 | 分类号： | G01C17/38;G01R33/02 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 方位角 装置 | ||
1.一种方位角计测装置，其特征在于，具有：
检测地磁的3轴的地磁检测单元；
输出数据获取单元，其按照大于等于规定次数，反复获取所述地磁 检测单元的朝向在3维空间中变化时的来自所述地磁检测单元的3轴输 出数据；
平面推算单元，其在将所述3轴输出数据作为各轴方向成分的3维 坐标上，推算使所述输出数据获取单元所得到的3轴输出数据群位于附 近的平面，并将其作为基准平面；
临时基准点推算单元，其通过统计方法推算在所述平面推算单元所 得到的基准平面上，与所述输出数据获取单元所得到的3轴输出数据群 投影在所述基准平面上的投影点群的距离的标准离差最小的位置的坐 标，并将其作为临时基准点；
基准点校正单元，其把经过所述临时基准点且与所述基准平面垂直 的直线上离以前所推算的基准点最近的位置作为所述基准点；
以及偏移信息算出单元，其根据所述基准点校正单元所得到的基准 点的坐标，算出相对于所述地磁检测单元的输出数据的偏移信息。
2.一种方位角计测装置，其特征在于，具有：
检测地磁的3轴的地磁检测单元；
输出数据获取单元，其按照大于等于规定次数，反复获取所述地磁 检测单元的朝向在3维空间中变化时的来自所述地磁检测单元的3轴输 出数据；
平面推算单元，其在将所述3轴输出数据作为各轴方向成分的3维 坐标上，推算使所述输出数据获取单元所得到的3轴输出数据群位于附 近的平面，并将其作为基准平面；
临时基准点推算单元，其通过统计方法推算在所述平面推算单元所 得到的基准平面上，与所述输出数据获取单元所得到的3轴输出数据群 投影在所述基准平面上的投影点群的距离的标准离差最小的位置的坐 标，并将其作为临时基准点；
基准点校正单元，其通过统计方法推算从所述投影点群到所述临时 基准点的距离的平均值，将与以所述临时基准点为中心、以所述距离的 平均值为半径的所述基准平面上的圆周的距离等于规定值的位置作为所 述基准点；
以及偏移信息算出单元，其根据所述基准点校正单元所得到的基准 点的坐标，算出相对于所述地磁检测单元的输出数据的偏移信息。
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