[发明专利]一种制备过孔的方法有效
| 申请号: | 200810240081.7 | 申请日: | 2008-12-17 | 
| 公开(公告)号: | CN101752300A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 | 
| 发明(设计)人: | 刘舸;刘明;刘兴华;商立伟;王宏;柳江 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 | 
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L51/40 | 
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 | 
| 地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 | 
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| 摘要: | 本发明公开了一种制备过孔的方法,包括:在绝缘衬底上涂敷光刻胶;光刻得到栅电极图形;电子束蒸发或者PECVD沉积金属电极;用丙酮剥离不需要的金薄膜得到器件的栅电极图形;在栅电极上匀胶后再次光刻得到过孔图形;电子束蒸发过孔金属;剥离后再淀积栅介质材料;再次光刻得到栅介质上互连线的胶图形;电子束蒸发连线金属,剥离后实现栅介质上下导线的互连。本发明省掉了刻蚀栅介质这步工艺过程,是在完成了器件的栅电极制备后,为达到栅电极与随后要生长的栅介质上面的引线互连,先在栅电极上光刻出过孔图形,然后再蒸互连金属,最后再生长栅介质材料。本发明过孔的制备过程工艺简单,操作性比通过刻蚀的方法方便,降低了工艺成本。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 制备 方法 | ||
【主权项】:
                一种制备过孔的方法,其特征在于,该方法包括:步骤1、在绝缘衬底上涂敷光刻胶;步骤2、光刻得到栅电极图形;步骤3、电子束蒸发或者PECVD沉积金属电极;步骤4、用丙酮剥离不需要的金薄膜得到器件的栅电极图形;步骤5、在栅电极上匀胶后再次光刻得到过孔图形;步骤6、电子束蒸发过孔金属;步骤7、剥离后再淀积栅介质材料;步骤8、再次光刻得到栅介质上互连线的胶图形;步骤9、电子束蒸发连线金属,剥离后实现栅介质上下导线的互连。
            
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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