[发明专利]一种制备过孔的方法有效

专利信息
申请号: 200810240081.7 申请日: 2008-12-17
公开(公告)号: CN101752300A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 刘舸;刘明;刘兴华;商立伟;王宏;柳江 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L51/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种制备过孔的方法,包括:在绝缘衬底上涂敷光刻胶;光刻得到栅电极图形;电子束蒸发或者PECVD沉积金属电极;用丙酮剥离不需要的金薄膜得到器件的栅电极图形;在栅电极上匀胶后再次光刻得到过孔图形;电子束蒸发过孔金属;剥离后再淀积栅介质材料;再次光刻得到栅介质上互连线的胶图形;电子束蒸发连线金属,剥离后实现栅介质上下导线的互连。本发明省掉了刻蚀栅介质这步工艺过程,是在完成了器件的栅电极制备后,为达到栅电极与随后要生长的栅介质上面的引线互连,先在栅电极上光刻出过孔图形,然后再蒸互连金属,最后再生长栅介质材料。本发明过孔的制备过程工艺简单,操作性比通过刻蚀的方法方便,降低了工艺成本。
搜索关键词: 一种 制备 方法
【主权项】:
一种制备过孔的方法,其特征在于,该方法包括:步骤1、在绝缘衬底上涂敷光刻胶;步骤2、光刻得到栅电极图形;步骤3、电子束蒸发或者PECVD沉积金属电极;步骤4、用丙酮剥离不需要的金薄膜得到器件的栅电极图形;步骤5、在栅电极上匀胶后再次光刻得到过孔图形;步骤6、电子束蒸发过孔金属;步骤7、剥离后再淀积栅介质材料;步骤8、再次光刻得到栅介质上互连线的胶图形;步骤9、电子束蒸发连线金属,剥离后实现栅介质上下导线的互连。
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