[发明专利]堆叠芯片封装结构的制造方法无效
申请号: | 200810210962.4 | 申请日: | 2008-08-15 |
公开(公告)号: | CN101651106A | 公开(公告)日: | 2010-02-17 |
发明(设计)人: | 李淳玮;蔡铭海;段吉运;简圣辉;白忠巧;刘裕文 | 申请(专利权)人: | 坤远科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60;H01L25/00;H01L23/488 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 台湾省苗*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明为一种堆叠芯片封装结构的制造方法,其包括有以下步骤:首先提供一基板;接着粘着第一芯片、及第二芯片于基板上方,且第二芯片是叠设于第一芯片上方;然后连接第一焊线于第二芯片的第二焊垫、与第一芯片的第一焊垫的第一区域之间;并且,连接第二焊线于第一芯片的第一焊垫的第二区域、与基板的金属接点之间。据此,本发明能大幅缩小整体的体积、更可有效解决焊线线路繁多的问题,并可减少基板的焊垫所占用的体积及其数量,通过此降低基板线路布局的复杂度。 | ||
搜索关键词: | 堆叠 芯片 封装 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种堆叠芯片封装结构的制造方法,其特征在于包括以下步骤:(A)提供一基板,该基板的上表面设有至少一金属接点;(B)固着一第一芯片、及一第二芯片于该基板上方但裸露出该至少一金属接点;其中,该第一芯片的上表面设有至少一第一焊垫,该至少一第一焊垫包括有彼此相互邻接的一第一区域、及一第二区域;该第二芯片叠设于该第一芯片上方但裸露出该至少一第一焊垫,该第二芯片的上表面设有至少一第二焊垫;以及(C)连接一第一焊线于该第二芯片的该至少一第二焊垫、与该第一芯片的该至少一第一焊垫的该第一区域之间,并且,连接一第二焊线于该第一芯片的该至少一第一焊垫的该第二区域、与该基板的该至少一金属接点之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造