[发明专利]半导体器件有效

专利信息
申请号: 200810184311.2 申请日: 2008-12-03
公开(公告)号: CN101452925A 公开(公告)日: 2009-06-10
发明(设计)人: 征矢野伸;上柳胜道 申请(专利权)人: 富士电机电子技术株式会社
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L23/488
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 张 鑫
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 根据本发明,有可能容易地改变设置有封装在树脂外壳中的半导体元件的半导体器件中的至少一个接线端子的布局。提供了一种半导体器件,包括:固定支撑在树脂外壳中的多个外部连接端子;封装在该树脂外壳中的IGBT元件和FWD元件;以及设置有至少一个接线端子——各IGBT元件通过它分别电连接到外部连接端子——的至少一个端子块。根据该半导体器件的配置,在设置有封装在树脂外壳中的半导体元件的半导体器件中接线端子的布局可容易地改变。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1. 一种半导体器件,包括:固定支撑在树脂外壳中的多个外部连接端子;封装在所述树脂外壳中的至少一个半导体元件;以及设置有至少一个接线端子——所述半导体元件通过其电连接到所述外部连接端子——的至少一个端子块。
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