[发明专利]一种同步跟踪与邻小区径测量的方法及系统有效

专利信息
申请号: 200810179338.2 申请日: 2008-11-28
公开(公告)号: CN101753167A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 张皓 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04B1/707 分类号: H04B1/707;H04B7/26
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 龙洪;霍育栋
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种同步跟踪与邻小区径测量的方法及系统,在TD-SCDMA系统中实现下行同步跟踪及测量。其中该方法包括:在天线数据的下行导频时隙附近确定一时间窗,获得时间窗内的2倍采样数据;对2倍采样数据进行干扰消除处理,得到每个小区消除干扰后的信号;根据每个小区消除干扰后的信号,及终端接入过程中获得的下行同步码,获得每个小区的时延函数值;对每个小区的时延函数值进行内插,获得内插采样点并计算其能量值;选取一个滤波系数,根据滤波系数对内插采样点的能量值进行滤波,获得能量时延函数均值;根据能量时延函数均值进行定时检测,完成同步跟踪与邻小区径测量。本发明提高了处理效率和抗同频干扰性能。
搜索关键词: 一种 同步 跟踪 小区 测量 方法 系统
【主权项】:
一种同步跟踪与邻小区径测量的方法,应用于时分同步码分多址接入系统中,其特征在于,包括:在天线数据的下行导频时隙附近确定一时间窗,获得所述时间窗内的2倍采样数据;对所述2倍采样数据进行干扰消除处理,得到每个小区消除干扰后的信号;根据所述每个小区消除干扰后的信号,及终端接入过程中获得的下行同步码,获得每个小区的时延函数值;对所述每个小区的时延函数值进行内插,获得内插采样点;计算所述内插采样点的能量值;选取一个滤波系数,根据所述滤波系数对所述内插采样点的能量值进行滤波,获得能量时延函数均值;根据所述能量时延函数均值进行定时检测,完成同步跟踪与邻小区径测量。
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