[发明专利]一种同步跟踪与邻小区径测量的方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及时分同步码分多址接入系统，尤其涉及时分同步码分多址接 入系统中一种同步跟踪与邻小区径测量的方法及系统。

背景技术

时分同步码分多址接入(Time Division Synchronous Code Division Multiple Access，缩写为TD-SCDMA)系统要求基站与移动终端保持高精度 的同步。由于基站与移动终端之间存在因晶振漂移引起的频偏，以及移动终 端的移动引起的频偏，因此接收链路就必须不停地调整帧边界，以保持基站 与移动终端的精确同步。服务小区帧边界由同步模块提供。同时系统还要求 测量邻小区主径相对于服务小区网络时基的偏移量，简称邻小区径位置测量。

分析TD-SCDMA系统的帧结构和时隙结构可以知道，终端接收的数据 里面有两种类型的数据段可以用来做下行同步跟踪及测量：一是子帧数据里 面的第一个特殊时隙即下行导频时隙(Downlink Piloting Time Slot，缩写为 DwPTS)中的下行同步(Downlink Synchronize，缩写为SYNC-DL)码序列； 二是子帧数据里面的常规时隙TS0(Time Slot 0)以及下行业务时隙(TS2～TS6 中的下行时隙)中的中间码(Midamble)。

SYNC-DL码前后都有比较长的保护时隙(Guard Period，缩写为GP)， SYNC-DL之后的GP为96码片(chips)，用来避免上行导频时隙(Uplink Piloting Time Slot，简写为UpPTS)和DwPTS之间的干扰。不考虑时延影响 的话，可以保证小区半径在小于11.25千米(km)时接收没有干扰。在实际 环境中，SYNC-DL码可能会受到远处小区的TS0的干扰，当同频干扰比较强 的时候，可能会对SYNC-DL码的同步性能造成影响。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是在于需要提供一种同步跟踪与邻小区径测 量的方法及系统，在TD-SCDMA系统中实现下行同步跟踪及测量。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种同步跟踪与邻小区径测量的 方法，应用于时分同步码分多址接入系统中，包括：

在天线数据的下行导频时隙附近确定一时间窗，获得所述时间窗内的2 倍采样数据；

对所述2倍采样数据进行干扰消除处理，得到每个小区消除干扰后的信 号；

根据所述每个小区消除干扰后的信号，及终端接入过程中获得的下行同 步码，获得每个小区的时延函数值；

对所述每个小区的时延函数值进行内插，获得内插采样点；

计算所述内插采样点的能量值；

选取一个滤波系数，根据所述滤波系数对所述内插采样点的能量值进行 滤波，获得能量时延函数均值；

根据所述能量时延函数均值进行定时检测，完成同步跟踪与邻小区径测 量。

如上所述的方法中，可以采用串行干扰抵消技术对所述单倍采样数据进 行所述干扰消除处理。

如上所述的方法中，可以对所述每个小区消除干扰后的信号及所述下行 同步码进行相关运算，获得所述每个小区的延函数值。

如上所述的方法中，可以对所述每个小区的时延函数值进行2倍内插， 获得所述内插采样点。

如上所述的方法中，根据所述滤波系数对所述内插采样点的能量值进行 滤波，获得能量时延函数均值，可以包括根据下式计算获得：

AvePDP(s，n，i)＝α*AvePDP(s-1，n，i)+(1-α)*PDP(s，n，i)

其中：

α为所述滤波系数；计算第一个子帧时，所述α＝0；

AvePDP(s，n，i)，为子帧s第n个小区第i个能量时延函数均值；

AvePDP(s-1，n，i)，为子帧s-1第n个小区第i个能量时延函数均值；

PDP(s，n，i)，为子帧s第n个小区第i个内插样点的能量值。

为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种同步跟踪与邻小区径测量 的系统，应用于时分同步码分多址接入系统中，包括：

采样模块，用于在天线数据的下行导频时隙附近确定一时间窗，获得所 述时间窗内的2倍采样数据；

串行干扰清除模块，与所述采样模块相连，用于对所述2倍采样数据进 行干扰消除处理，得到每个小区消除干扰后的信号；