[发明专利]避免模流入口产生剥离的窗口型半导体封装构造有效

专利信息
申请号: 200810149563.1 申请日: 2008-09-12
公开(公告)号: CN101673720A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 李庄发;吕肇祥;邱政贤 申请(专利权)人: 力成科技股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/498;H01L23/13;H01L23/31
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人: 徐乐慧;张 瑾
地址: 台湾省新竹县湖*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种避免模流入口产生剥离的窗口型半导体封装构造,主要包含基板、主动面贴附至基板的芯片、粘接芯片与基板的基板核心层的粘晶层、两个或两个以上的焊线以及模封胶体。基板的槽孔的一端形成为超出芯片的模流入口,两个或更多的模流抵挡块附着于基板核心层上并位于粘晶区的边缘与槽孔两侧缘的交会处,更微突出在该模流入口的两侧,借以抵挡模封胶体的模流冲击对粘晶层的应力,以避免在模流入口产生剥离,更可维持粘晶间隙。
搜索关键词: 避免 流入 产生 剥离 窗口 半导体 封装 构造
【主权项】:
1、一种避免模流入口产生剥离的窗口型半导体封装构造,其特征在于,其包含有:基板,所述基板包含基板核心层、第一模流抵挡块以及第二模流抵挡块,所述基板核心层具有上表面、下表面以及贯穿所述上、下表面的槽孔,所述上表面定义有粘晶区并使所述槽孔的一端形成为超出所述粘晶区的模流入口,所述第一模流抵挡块与所述第二模流抵挡块附着于所述基板核心层的所述上表面并位于所述粘晶区的边缘与所述槽孔的两侧缘的交会处,更微突出在所述模流入口的两侧;芯片,所述芯片具有主动面以及两个或两个以上设于所述主动面上的电极,所述芯片的所述主动面的尺寸对应于所述粘晶区;粘晶层,所述粘晶层粘接所述芯片的所述主动面与所述基板的所述基板核心层的上表面,并使所述芯片的所述这些电极对准在所述槽孔内;两个或两个以上的焊线,所述焊线通过所述槽孔使所述芯片的所述这些电极电性连接至所述基板;以及模封胶体,所述模封胶体形成于所述基板核心层的所述上表面之上并经由所述模流入口填入至所述槽孔内,密封所述这些焊线。
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