[发明专利]电容支撑结构、电容器结构及其制作方法无效

专利信息
申请号: 200810041708.6 申请日: 2008-08-14
公开(公告)号: CN101651142A 公开(公告)日: 2010-02-17
发明(设计)人: 彭坤;韩启成;陈晓军 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 屈 蘅;李时云
地址: 2012*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种电容支撑结构、电容器结构及其制作方法,用于解决传统DRAM存储单元电容器电容极板易倒塌问题。该电容支撑结构包括依次位于层间绝缘层上的第一阻挡层,中间介质层和第二阻挡层;贯通所述第二阻挡层,中间介质层和第一阻挡层的电容沟槽,该电容沟槽内用于形成电容器。电容器极板位于电容沟槽侧壁和底部,且高于电容沟槽表面。该电容支撑结构握住电容沟槽中的电容器极板,对电容器极板可起到支撑作用,从而可有效解决传统电容器极板在去除模具层后,电容器极板易倒塌的问题。
搜索关键词: 电容 支撑 结构 电容器 及其 制作方法
【主权项】:
1、一种电容支撑结构,位于半导体基底上的层间绝缘层表面,其特征在于,所述电容支撑结构包括依次位于层间绝缘层上的第一阻挡层,中间介质层和第二阻挡层;贯通所述第二阻挡层,中间介质层和第一阻挡层的电容沟槽,所述电容沟槽内用于形成电容器极板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810041708.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top