[发明专利]电容支撑结构、电容器结构及其制作方法无效
申请号: | 200810041708.6 | 申请日: | 2008-08-14 |
公开(公告)号: | CN101651142A | 公开(公告)日: | 2010-02-17 |
发明(设计)人: | 彭坤;韩启成;陈晓军 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L21/8242 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 屈 蘅;李时云 |
地址: | 2012*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种电容支撑结构、电容器结构及其制作方法,用于解决传统DRAM存储单元电容器电容极板易倒塌问题。该电容支撑结构包括依次位于层间绝缘层上的第一阻挡层,中间介质层和第二阻挡层;贯通所述第二阻挡层,中间介质层和第一阻挡层的电容沟槽,该电容沟槽内用于形成电容器。电容器极板位于电容沟槽侧壁和底部,且高于电容沟槽表面。该电容支撑结构握住电容沟槽中的电容器极板,对电容器极板可起到支撑作用,从而可有效解决传统电容器极板在去除模具层后,电容器极板易倒塌的问题。 | ||
搜索关键词: | 电容 支撑 结构 电容器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1、一种电容支撑结构,位于半导体基底上的层间绝缘层表面,其特征在于,所述电容支撑结构包括依次位于层间绝缘层上的第一阻挡层,中间介质层和第二阻挡层;贯通所述第二阻挡层,中间介质层和第一阻挡层的电容沟槽,所述电容沟槽内用于形成电容器极板。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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