[实用新型]测量半导体发光器件用的温控座有效
| 申请号： | 200720303111.5 | 申请日： | 2007-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN201133928Y | 公开（公告）日： | 2008-10-15 |
| 发明（设计）人： | 牟同升 | 申请（专利权）人： | 杭州浙大三色仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G05D23/00 |
| 代理公司： | 浙江翔隆专利事务所 | 代理人： | 戴晓翔 |
| 地址： | 310013浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种具有温控功能和避免结露的测量半导体发光器件用的温控座。它包括温控装置和与温控装置相配合的密封罩，被测试件可置于密封罩内与温控装置相配合。本实用新型具有的有益效果：1.温控装置的设置，使被测试件始终处于相对恒温状态，测试结果准确；2.设有密封罩，可以使被测试件与周围环境隔绝，避免受周围环境的影响；3.密封件的设置，使密封罩的密封效果更好；4.抽气口的设置，真空机通过抽气口连接到密封罩上，可将密封罩内空气抽取，减少水汽，避免水汽凝结到被测试件上。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 半导体 发光 器件 温控 | ||
【主权项】：
1.测量半导体发光器件用的温控座，其可与被测试件(3)相配合，其特征在于它包括温控装置和与温控装置相配合的密封罩(2)，所述的被测试件(3)可置于密封罩(2)内与温控装置相配合。
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