[发明专利]确定初始抛光参数的方法无效
| 申请号： | 200710307262.2 | 申请日： | 2007-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN101209538A | 公开（公告）日： | 2008-07-02 |
| 发明（设计）人： | A·卢纳;M·布伦克 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | B24B49/00 | 分类号： | B24B49/00;B24B39/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 曾祥夌;廖凌玲 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种确定抛光加工参数的方法，包括：用滚动抛光单元(11)在材料样品(13)的一个选定表面(12)上抛光至少两个节段(14)，所述节段(14)具有共同的宽度(W)，并按照预设的重叠值(OV)彼此重叠；测量所述表面(12)的结果硬度；并根据所述测得的硬度值，为后续工件(WP)上的抛光加工选择工作重叠值(OV)。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 初始 抛光 参数 方法 | ||
【主权项】：
1.一种确定抛光加工参数的方法，包括：(a)使用滚动抛光单元(11)在材料样品(13)的选定表面(12)上抛光至少两个节段(14)，所述节段(14)具有共同的宽度(W)，并且按照预设的重叠值(OV)而彼此重叠；(b)测量所述表面(12)的结果硬度；并(c)根据所述测得的硬度值，为在后续工件(WP)上的抛光加工来选择工作重叠值(OV)。
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- 一种配置成抛光研具的抛光系统包括：研具，其配置成接触工件以抛光工件；以及隔件，其配置成接触研具。该隔件具有形成在其中的孔。该孔的半径和工件的半径大致相同。孔的中心和工件的中心布置成与研具的中心隔开一段大致相同的径向距离。该孔从研具的中心沿着第一径向布置，并且工件从研具的中心沿着第二径向布置。第一和第二径向可为相对的方向。
- 一种动导轨运动直线度误差的测量方法-200910155343.4
- 潘旭华 - 潘旭华
- 2009-12-16 - 2010-06-23 - B24B49/00
- 本发明属于机械加工类，具体是一种动导轨运动直线度误差的测量方法，其特征在于：在动导轨上设置两个相对的顶尖，顶尖座装在动导轨上，两顶尖之间装有一圆柱体；定导轨上设置一砂轮，砂轮与圆柱体点接触，动导轨运动时带动圆柱体直线运动，并使圆柱体旋转，砂轮磨削圆柱体，砂轮与圆柱体接触点与圆柱体中心线形成一平面；圆柱体磨削后，测量圆柱体在长度方向上各点的直径值，测量的即是该平面上的动导轨运动直线度误差；设圆柱体上某一位置的直径为标准直径，长度上各点直径值与标准直径的差值除以二就是动导轨在各点相对于定导轨上砂轮磨削点的直线度误差值。本发明简单方便，科学合理，测量精确。
- 磨刀机砂轮位置测量方法及其装置-200910069332.4
- 王宏丽 - 天津市精诚机床制造有限公司
- 2009-06-19 - 2009-11-18 - B24B49/00
- 本发明涉及一种磨刀机砂轮位置测量方法及其装置。本发明属于数控机床技术领域。一种磨刀机砂轮位置测量方法，进行砂轮位置检测，其特点是：在床身设置测头，在砂轮主轴箱上装配辅助测量元件，砂轮主轴箱上有电机带动砂轮主轴传动砂轮；测量时，通过测头测量辅助测量元件和砂轮的相对位置数据，确定精确磨削时砂轮的具体位置。一种磨刀机砂轮位置测量装置，其特点是：床身上设有测头，砂轮主轴箱上装有辅助测量元件，砂轮主轴箱连装电机带动砂轮主轴传动的砂轮，辅助测量元件和砂轮在测头测量范围内。本发明具有结构简单，安装合理，操作方便，实时在线控制，测量精度高等优点。
- 使用配有进给力传感器的珩磨进给系统的加工前和加工后镗孔校准-200780038994.4
- D·M·默恩;D·R·克卢捷;T·P·霍特 - 森南产品公司
- 2007-09-05 - 2009-09-09 - B24B49/00
- 本发明的方法可精确和统一地确定工件加工前和加工后的镗孔尺寸，以改进加工控制，特别是可提供工具或磨石磨损及其它因素的补偿，以及加工数据收集。本方法进行所有要求的镗孔测量，包括用珩磨工具在受控静态非珩磨条件下，在工件镗孔和校准环或样品工件镗孔中进行的测量，包括在镗孔中以预定方式、例如以预定速率扩张工具。本发明的方法可用于以一个单一工具珩磨多个工件至成品尺寸，也可用于多轴应用。
- 专利分类
