[发明专利]一种CMOS图像传感器的有源像素的制造方法无效

专利信息
申请号: 200710098045.7 申请日: 2007-04-26
公开(公告)号: CN101295724A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 高文玉;李秋德;彭川;王科军 申请(专利权)人: 和舰科技(苏州)有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L21/82;H01L21/8238
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人: 王光辉
地址: 215123江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种CMOS图像传感器的有源像素的制造方法,包括:步骤1,在衬底上形成硅薄膜,在硅薄膜上形成场区和P阱和/或N阱,在硅薄膜上方形成栅氧化层,在栅氧化层上沉积多晶硅,形成转移晶体管或重置晶体管的栅电极;步骤2,覆盖光阻膜,暴露出需要植入N型杂质的区域,植入1层或1层以上的N型杂质后去除剩余光阻膜;步骤3,在多晶硅栅电极侧壁形成侧壁电介质,而后再覆盖光阻膜,暴露出需要植入P型杂质的区域,以预定的合适角度植入P型杂质后去除剩余光阻膜,得到PINNED型光电二极管。本发明降低了有源像素的随机噪声,提高了光的吸收效率,节约了一道光刻工艺步骤和光罩掩膜板。
搜索关键词: 一种 cmos 图像传感器 有源 像素 制造 方法
【主权项】:
1.一种互补式金属氧化物半导体图像传感器的有源像素的制造方法,其特征是包括以下步骤:步骤1,在衬底上形成硅薄膜,在硅薄膜上形成场区,P阱和/或N阱,在硅薄膜上方形成栅氧化层,在栅氧化层上沉积多晶硅,形成转移晶体管或重置晶体管的栅电极;步骤2,覆盖光阻膜,暴露出二极管需要植入N型杂质的区域,植入1层或1层以上的N型杂质后去除剩余光阻膜;步骤3,在多晶硅的侧壁形成侧壁电介质,而后再覆盖光阻膜,暴露出二极管需要植入P型杂质的区域,以预定的合适角度植入P型杂质后去除剩余光阻膜,得到铰接型光电二极管。
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