[发明专利]以上电极作为保护层的CuxO电阻存储器及其制造方法无效
申请号: | 200710045407.6 | 申请日: | 2007-08-30 |
公开(公告)号: | CN101118922A | 公开(公告)日: | 2008-02-06 |
发明(设计)人: | 林殷茵;陈邦明;唐立 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L27/24 | 分类号: | H01L27/24;H01L45/00;H01L21/82;G11C11/56 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 20043*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属微电子技术领域,具体提供了一种以自对准形成的上电极作为保护层的CuxO电阻存储器及制造方法。所述的存储器包括:下电极为铜互连工艺中形成于沟槽中的铜引线,在铜引线上方形成的第一介质层和在第一介质层中形成的孔洞,位于孔洞底部的铜氧化形成的CuxO存储介质,以自对准方式形成于所述的CuxO存储介质之上和所述的介质层孔洞之中的金属上电极。在制作所述的电阻存储器时,以自对准形成的金属上电极层作为CuxO存储介质的保护层,无需为制作上电极图形增加掩膜和光刻步骤,可避免制作过程中的工艺步骤导致存储器件电阻波动和不均匀,提高可靠性。 | ||
搜索关键词: | 以上 电极 作为 保护层 cu sub 电阻 存储器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种与铜互连工艺集成的CuxO电阻存储器,其特征在于包括下电极,为铜互连工艺中形成于沟槽中的铜引线;在所术铜引线上方形成的第一介质层和在第一介质层中形成的孔洞;位于所述孔洞底部的铜氧化形成的CuxO存储介质,1<x≤2,以及以自对准方式形成于所述的CuxO存储介质之上和所述的介质层孔洞之中的金属上电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的