[发明专利]减小霍尔集成电路失调电压方法及其装置有效

专利信息
申请号: 200710039676.1 申请日: 2007-04-19
公开(公告)号: CN101290946A 公开(公告)日: 2008-10-22
发明(设计)人: 管慧;陈俊 申请(专利权)人: 上海钜胜微电子有限公司
主分类号: H01L27/22 分类号: H01L27/22
代理公司: 上海东方易知识产权事务所 代理人: 沈原
地址: 201108上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种减小霍尔集成电路失调电压方法,是将霍尔单元阵列位于芯片中心部分,其他为霍尔单元服务的电路器件置于霍尔单元阵列的周围,并将霍尔单元并联联接,每个霍尔单元周边被重掺杂所形成的隔离带和外延层所包围。所涉及的装置包括一半导体P型基层衬底,以及在半导体P型基层衬底上生长轻掺杂的半导体N型外延层。在半导体N型外延层上还置有被重掺杂的半导体P型隔离带,该隔离带将半导体N型外延层分割成至少三块孤立的霍尔单元,且霍尔单元呈中心对称排列的阵列。本发明可使得霍尔器件受芯片边缘的应力和压力等的影响趋于一致,使得霍尔单元失调电压受霍尔单元周围的其它器件影响更小,并使霍尔单元受制造工艺的偏差影响趋于一致,匹配性更好。
搜索关键词: 减小 霍尔 集成电路 失调 电压 方法 及其 装置
【主权项】:
1、一种减小霍尔集成电路失调电压方法,其特征在于:将霍尔单元阵列位于芯片的中心部分,其他为霍尔单元服务的电路器件置于霍尔单元阵列的周围,并将霍尔单元阵列中的霍尔单元并联联接,每个霍尔单元的周边被重掺杂所形成的隔离带和外延层所包围。
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