[发明专利]减小霍尔集成电路失调电压方法及其装置有效
| 申请号: | 200710039676.1 | 申请日: | 2007-04-19 |
| 公开(公告)号: | CN101290946A | 公开(公告)日: | 2008-10-22 |
| 发明(设计)人: | 管慧;陈俊 | 申请(专利权)人: | 上海钜胜微电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/22 | 分类号: | H01L27/22 |
| 代理公司: | 上海东方易知识产权事务所 | 代理人: | 沈原 |
| 地址: | 201108上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 减小 霍尔 集成电路 失调 电压 方法 及其 装置 | ||
1.一种减小霍尔集成电路失调电压方法,其特征在于,将霍尔单元 阵列位于芯片的中心部分,其他为霍尔单元服务的电路器件置于霍尔 单元阵列的周围,并将霍尔单元阵列中的霍尔单元并联联接,每个霍 尔单元的周边被重掺杂所形成的隔离带和外延层所包围。
2.一种装置,使用如权利要求1所述的减小霍尔集成电路失调电压 方法,该装置包括一半导体P型基层衬底,以及在半导体P型基层衬 底上生长轻掺杂的半导体N型外延层,其特征在于:在半导体N型外 延层上还置有被重掺杂的半导体P型隔离带,该隔离带将半导体N型 外延层分割成至少三块孤立的霍尔单元,且霍尔单元呈中心对称排列 的阵列,各霍尔单元之间并联联接。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述的霍尔单元的周 边还被外延层所包围。
4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述的霍尔单元的周 边置有其他为霍尔单元服务的电路器件。
5.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述的霍尔单元形状 为平面几何形状。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述的霍尔单元为矩 形或平行四边形或三角形或扇形或圆形。
7.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述的霍尔单元的周 边还置有能使其性能趋于均衡的缺口。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





