[发明专利]中空二氧化硅微粒、含有该微粒的透明涂膜形成用组合物、及覆有透明涂膜的基材有效

专利信息
申请号: 200680043928.1 申请日: 2006-11-17
公开(公告)号: CN101312909A 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: 末吉亮太;村口良;松田政幸;熊泽光章;平井俊晴 申请(专利权)人: 触媒化成工业株式会社
主分类号: C01B33/18 分类号: C01B33/18;C09D7/12;C09D201/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 杨宏军
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种可抑制透明涂膜泛白、可发挥优异的耐划擦性或密合性的中空二氧化硅微粒和其制造方法。本发明涉及一种通过动态光散射法测定的平均粒径为5~300nm、比表面积为50~1500m2/g、外壳的内部形成空洞的中空二氧化硅微粒,通过进行热重量测定(TG),在200℃~500℃的温度范围内显示出1.0重量%以上的重量减少。另外,此中空二氧化硅微粒在200℃~500℃的温度范围内的差热分析测定(DTA)中具有正的DTA峰。
搜索关键词: 中空 二氧化硅 微粒 含有 透明 形成 组合 基材
【主权项】:
1、一种中空二氧化硅微粒,所述中空二氧化硅微粒通过动态光散射法测定的平均粒径为5~300nm,比表面积为50~1500m2/g,外壳的内部形成空洞,其特征在于,通过进行热重量测定TG,在200℃~500℃的温度范围内显示出1.0重量%以上的重量减少。
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