[发明专利]用于进行阻抗测量的装置、系统和方法无效

专利信息
申请号: 200680025239.8 申请日: 2006-06-28
公开(公告)号: CN101218513A 公开(公告)日: 2008-07-09
发明(设计)人: E·瓦芬施米特;C·伊格尼;A·布劳尔斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;A61B5/053
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 韩宏
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及一种对外部物质进行阻抗测量的装置(1),所述装置包括具有各个线圈(3a、3b、3c、3d)和各个容性元件(5a、5b、5c、5d)的多个谐振电路,所述谐振电路以不同的谐振频率工作。用安培表(6)检测所述谐振电路的信号(S1、S2、S3、S4)。由于和导电体之间的电磁作用而使谐振电路产生的功率损耗通过各个信号的幅度变化反应出来。通过检测信号(S1、S2、S3或S4),确定谐振电路的功率损耗。优选地,所述谐振电路集成在绝缘织物载体(2)内。本发明进一步涉及生命体征测量系统和进行阻抗测量的方法。
搜索关键词: 用于 进行 阻抗 测量 装置 系统 方法
【主权项】:
1.一种电磁阻抗测量装置(1),包括传感器元件(3a),用于对外部物质进行阻抗测量,所述装置进一步包括另一个传感器元件(3b、3c、3d),用于对所述物质进行空间解析的阻抗测量(S1、S2、S3、S4),所述传感器元件和所述另一个传感器元件设置作为工作于不同谐振频率的各个谐振电路的部分。
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