[发明专利]用于半导体应用的精确温度测量有效

专利信息
申请号: 200680011059.4 申请日: 2006-03-17
公开(公告)号: CN101156056A 公开(公告)日: 2008-04-02
发明(设计)人: 什里坎特·洛霍卡雷 申请(专利权)人: 朗姆研究公司
主分类号: G01K3/00 分类号: G01K3/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余刚;尚志峰
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种确保精确的原位温度测量的温度传感元件。该温度传感元件设置于该处理室中。该温度传感元件具有空腔,透明盖体设置于该空腔的开口上方。材料设置于该温度传感元件的空腔内,并且传感器被配置为透过该透明盖体传感该材料的相变。
搜索关键词: 用于 半导体 应用 精确 温度 测量
【主权项】:
1.一种处理室,包括:温度传感元件,其设置于所述处理室中,其中,所述温度传感元件具有空腔;透明盖体,其设置在所述空腔的开口上方;材料,其设置于所述温度传感元件的所述空腔中;以及传感器,其配置为透过所述透明盖体传感所述材料的相变。
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