[发明专利]介质材料的介电特性测量装置无效
| 申请号： | 200610164879.9 | 申请日： | 2006-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN101196545A | 公开（公告）日： | 2008-06-11 |
| 发明（设计）人： | 祝宁华;王欣;刘宇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R27/28;G01R31/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 100083北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明一种介质材料的介电特性测量装置，其特征在于，其中包括：一测试盒，该测试盒为一矩形腔体，其上部为一开口状；两微波法兰接头，该两微波法兰接头和位于测试盒腔体相对的两侧外的腔壁上，通过该两微波法兰接头实现微波信号的输入输出；一共面微带线，该共面微带线位于测试盒内的底面上，该共面微带线两端与两微波法兰接头连接，实现微波信号的稳定传输；一屏蔽盖，该屏蔽盖位于测试盒的上部，对外界干扰电噪声具有屏蔽作用。 | ||
| 搜索关键词： | 介质 材料 特性 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种介质材料的介电特性测量装置，其特征在于，其中包括：一测试盒，该测试盒为一矩形腔体，其上部为一开口状；两微波法兰接头，该两微波法兰接头和位于测试盒腔体相对的两侧外的腔壁上，通过该两微波法兰接头实现微波信号的输入输出；一共面微带线，该共面微带线位于测试盒内的底面上，该共面微带线两端与两微波法兰接头连接，实现微波信号的稳定传输；一屏蔽盖，该屏蔽盖位于测试盒的上部，对外界干扰电噪声具有屏蔽作用。
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