[发明专利]用于阈值压控相变随机存取存储器的编程方法无效

专利信息
申请号: 200610164044.3 申请日: 2006-12-06
公开(公告)号: CN101022120A 公开(公告)日: 2007-08-22
发明(设计)人: 徐东硕;李殷洪;卢振瑞 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L45/00;H01L21/82;G11C11/56;G11C16/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邵亚丽;李晓舒
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供一种用于由阈值电压控制的相变随机存取存储器(PRAM)的编程方法,包括:利用编程来确定硫族化合物材料的无定形状态,从而形成具有与逻辑高和逻辑低相对应的阈值电压的编程区域;以及在编程期间控制编程脉冲的后沿,从而控制硫族化合物材料的淬火速度,以便调整硫族化合物材料的阈值电压。因此,与逻辑低或逻辑高相对应的编程脉冲能够具有均匀的幅度,而不管相应的逻辑电平为何。结果,PRAM器件的可靠性能够得到提高。
搜索关键词: 用于 阈值 相变 随机存取存储器 编程 方法
【主权项】:
1、一种用于相变随机存取存储器(PRAM)的编程方法,包括:利用编程来确定硫族化合物材料的无定形状态,从而形成具有与逻辑高和逻辑低相对应的阈值电压的编程区域;以及在编程期间临时控制编程脉冲的后沿,从而控制硫族化合物材料的淬火速度,以便调整硫族化合物材料的阈值电压。
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