[发明专利]具有栅极间插件的闪存器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200610110188.0 申请日: 2006-06-29
公开(公告)号: CN1893087A 公开(公告)日: 2007-01-10
发明(设计)人: 李允峰 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L21/8247
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种非易失性存储器件,包括:第一和第二单元栅极,形成在单元区域内;第一和第二外围栅极,形成在外围区域内;以及栅极间插件,位于第一和第二单元栅极之间。该栅极间插件包括第一绝缘层、形成在第一绝缘层上的第二导电层,以及形成在第二导电层上的第三绝缘层。通过形成栅极间插件和间隔,从而降低阈值电压Vt变化。本发明还提供一种制造闪存器件的方法。
搜索关键词: 具有 栅极 插件 闪存 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种非易失性存储器件,包括:第一和第二单元栅极,形成在单元区域内部;第一和第二外围栅极,形成在外围区域内部;以及栅极间插件,位于所述第一和第二单元栅极之间,该栅极间插件包括第一绝缘层、形成在所述第一绝缘层上的第二导电层、以及形成在所述第二导电层上的第三绝缘层。
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