[发明专利]形成含硅的绝缘膜的方法和装置有效
申请号: | 200610108370.2 | 申请日: | 2006-08-02 |
公开(公告)号: | CN1908228A | 公开(公告)日: | 2007-02-07 |
发明(设计)人: | 长谷部一秀;冈田充弘;周保华;小川淳;金採虎;福岛讲平;高桥俊树;佐藤润 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/00 | 分类号: | C23C16/00;C23C16/52;H01L21/205 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 这本发明提供一种成膜方法,在能够有选择地供给含有硅烷类气体的第一处理气体;含有选自氮化气体、氧氮化气体和氧化气体中的气体的第二处理气体;和吹扫气体的处理区域内,利用CVD,在被处理基板上形成含有硅的绝缘膜,其交互地具有第一~第四工序。在第一、第二、第三和第四工序中,分别供给第一处理气体、吹扫气体、第二处理气体以及吹扫气体,停止剩下的两种气体的供给。在第一工序至第四工序,通过配置开度调整用阀的排气通路继续给处理区域内真空排气。将第一工序的阀开度设定为第二和第四工序的阀开度的5~95%。 | ||
搜索关键词: | 形成 绝缘 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种成膜方法,其特征在于:其是在能够有选择地供给含有硅烷类气体的第一处理气体;含有选自氮化气体、氧氮化气体和氧化气体中的气体的第二处理气体;和吹扫气体的处理区域内,利用CVD,在被处理基板上形成含有硅的绝缘膜的成膜方法,其交替地包括:向所述处理区域供给所述第一处理气体,另一方面,停止向所述处理区域供给所述第二处理气体和吹扫气体的第一工序;向所述处理区域供给所述吹扫气体,另一方面,停止向所述处理区域供给所述第一和第二处理气体的第二工序;向所述处理区域供给所述第二处理气体,另一方面,停止向所述处理区域供给所述第一处理气体和吹扫气体的第三工序;向所述处理区域供给所述吹扫气体,另一方面,停止向所述处理区域供给所述第一和第二处理气体的第四工序,其中,在从所述第一工序至所述第四工序中,通过配置有开度调整用的阀的排气通路,连续对所述处理区域内进行真空排气,将所述第一工序的所述阀的开度设定为所述第二和第四工序的所述阀的开度的5~95%。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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