[发明专利]铟镓氮外延薄膜及生长方法和在太阳能电池的应用无效

专利信息
申请号: 200610088287.3 申请日: 2006-07-07
公开(公告)号: CN1885494A 公开(公告)日: 2006-12-27
发明(设计)人: 谢自力;张荣;刘斌;韩平;修向前;文博;刘成祥;赵红;郑有炓;顾书林;江若琏;施毅;朱顺明;胡立群 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;H01L31/0304;H01L31/036;H01L33/00;C30B29/40;C30B25/02
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 代理人: 汤志武;王鹏翔
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 高结晶铟镓氮单晶外延膜,在蓝宝石衬底先设有GaN缓冲层,且为20-200nm的低温GaN缓冲层;然后生长厚度可达到1-80μm的高结晶的InxGa1-x (0≤x≤1)材料。高结晶铟镓氮单晶外延膜的生长方法,在蓝宝石衬底上利用MOCVD系统先生长GaN缓冲层,在500-700℃温度范围生长厚度在20-200nm的低温GaN缓冲层;然后利用MOCVD生长高结晶的InxGa1-xN材料;接着在GaN缓冲层上以500-1050℃生长高质量InxGa1-xN材料;生长压力在0-700Torr,尤其控制在300-700Torr;其中0≤X≤1材料厚度1μm以上。太阳能电池采用材料In0..3Ga0.7N薄膜,电极采用MSM结构。
搜索关键词: 铟镓氮 外延 薄膜 生长 方法 太阳能电池 应用
【主权项】:
1、高结晶铟镓氮单晶外延膜,其特征是在蓝宝石衬底先设有GaN缓冲层,且为20-200nm的低温GaN缓冲层;然后生长厚度可达到1-80μm的高结晶的InxGa1-x(0≤x≤1)材料。
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