[发明专利]逆特性测量装置以及失真补偿装置、方法、程序、记录介质无效
申请号: | 200580027923.5 | 申请日: | 2005-09-12 |
公开(公告)号: | CN101014867A | 公开(公告)日: | 2007-08-08 |
发明(设计)人: | 黑泽诚 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱德万测试 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 许静 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 根据与被测量物特性关联的特性来补偿非线性失真。逆特性测量器40,作为给予了被测量物30信号源10生成的输入信号的结果,测量从被测量物30输出的输出信号。再者,根据输入信号,在被测量物30是理想的被测量物时,取得从被测量物30输出的理想信号;并且,取得针对输出信号的作为理想信号的关系的逆特性。将该逆特性给予失真补偿器50。失真补偿器50,给予被测量物30通过逆特性转换了输入信号的信号。由此,从被测量物30输出的信号就成为补偿了被测量物30的失真的理想信号。 | ||
搜索关键词: | 特性 测量 装置 以及 失真 补偿 方法 程序 记录 介质 | ||
【主权项】:
1.一种逆特性测量装置,其特征在于,具有:信号测量单元,其作为将输入信号给予了被测量物的结果,测量从被测量物输出的输出信号;理想信号取得单元,其根据所述输入信号,在所述被测量物是理想的被测量物时,取得从所述被测量物输出的理想信号;和逆特性取得单元,其取得作为针对所述输出信号的所述理想信号的关系的逆特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社爱德万测试,未经株式会社爱德万测试许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580027923.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。