[发明专利]集成电路和其被动元件及形成此被动元件的方法有效

专利信息
申请号: 200510098504.2 申请日: 2005-08-31
公开(公告)号: CN1776910A 公开(公告)日: 2006-05-24
发明(设计)人: 黄健朝 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/82
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 台湾省新竹科学*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是关于一种集成电路和其被动元件及形成此被动元件的方法,该集成电路包括一主动元件,具有一金属闸电极沉积在一基板上;一由半导体材料所形成的被动元件,形成于邻近此主动元件处的基板上;一介电层位于该被动元件和基板间,用以隔离两者。该被动元件的方法,其至少包括以下步骤:形成一闸极介电层在一半导体基板上;形成一金属闸极电极在该闸极介电层上;沉积一介电层在该金属闸极电极之上;沉积一半导体层在该介电层之上;以及图案化该半导体层和该介电层用以形成一被动元件。本发明的被动元件制造方法不会占据额外的布局区域,并且可以解决不容易熔断的问题。
搜索关键词: 集成电路 被动 元件 形成 方法
【主权项】:
1、一种集成电路,其特征在于其至少包括:一主动元件,具有一金属闸极电极沉积在一基板上;一被动元件,是由一半导体材料所形成,形成在该基板上的该主动元件附近;以及一介电层位于该被动元件和该基板间用以分隔两者。
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