[发明专利]使用凸块进行封装的结构及其形成方法有效
申请号: | 200510062653.3 | 申请日: | 2005-03-30 |
公开(公告)号: | CN1841795A | 公开(公告)日: | 2006-10-04 |
发明(设计)人: | 王俊恒 | 申请(专利权)人: | 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L23/48;H01L21/60 |
代理公司: | 上海新高专利商标代理有限公司 | 代理人: | 楼仙英 |
地址: | 台湾省新竹县宝山乡新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 使用凸块进行封装的结构及其形成方法,其先形成一阻障以及黏着层在具有一接垫与一保护层的一基材上,接着形成一第一凸块,然后再在第一凸块的平坦区域上形成一第二凸块,最后将欲进行封装芯片的外接电极连接第二凸块。 | ||
搜索关键词: | 使用 进行 封装 结构 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种封装结构,其特征在于,至少包含:一基材,具有一接垫与一保护层,其中该保护层是形成于该接垫周围;一第一凸块,位于所述的接垫上;一第二凸块,位于所述的第一凸块的平坦区域上,且该第二凸块具有一平顶;以及一具有外接电极的芯片,位于所述的第二凸块上,其中该外接电极与该第二凸块连接。
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