[发明专利]多个光学特性的单次扫描测量无效
| 申请号： | 200480009960.9 | 申请日： | 2004-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN1774621A | 公开（公告）日： | 2006-05-17 |
| 发明（设计）人： | D·R·安德森 | 申请（专利权）人： | 索尔实验室公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;陈景峻 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种在扫描波长光学系统的单次扫描期间测量光学器件的多个光学特性的方法，其在该扫描波长光学系统的波长范围内的光学信号的连续光学频率递增下循环改变输入偏振态。根据所测量的输出偏振态来计算波长相关的Jones矩阵，并且根据所述Jones矩阵来确定多个光学特性，所述特性包括PDL和DGD。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 特性 扫描 测量 | ||
【主权项】：
1、一种测量光学器件的多个光学特性的方法，包括以下步骤：将一个扫描波长光学信号施加到该光学器件的输入端，该扫描波长光学信号具有一个偏振态，该偏振态随着在该扫描波长光学信号的波长范围内的光学频率的每次改变而改变，该偏振态在多个已定义偏振态中循环改变；测量该光学器件输出端处的偏振态以便对应于光学频率的每次改变而产生一个Jones向量；和根据产生自在所述波长范围内对该扫描波长光学信号的单次扫描的Jones向量来计算所述多个光学特性。
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