[发明专利]半导体器件有效

专利信息
申请号: 200410104857.4 申请日: 2004-12-24
公开(公告)号: CN1638105A 公开(公告)日: 2005-07-13
发明(设计)人: 真光邦明;中濑好美 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: H01L23/28 分类号: H01L23/28;H01L23/34
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 吴立明;梁永
地址: 日本爱知*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在具有半导体芯片(10、11)、连接在半导体芯片(10、11)的主后表面侧上的下部散热器(20)、和连接在半导体芯片(10、11)的主前表面侧上的上部散热器(30)的半导体器件中,其中整个器件(S1)基本上由模制树脂(80)封装,位于安装部分(90)周围的树脂(80)的厚壁部分提供有孔(81),其是用于在其成型过程中阻碍树脂(80)流动的树脂流阻碍部分,由此防止气泡出现在安装部分(90)中的树脂(80)中。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:半导体元件(10、11),其分别在主前表面和主后表面上具有电极;第一金属部件(20),其连接在半导体元件(10、11)的主后表面侧上,并且其用作电极和辐射部件;和第二金属部件(30),其连接在半导体元件(10、11)的主前表面侧上,并且其用作电极和辐射部件;其中整个器件基本上由模制树脂(80)封装;包括:用于在其成型过程中阻碍树脂(80)流动的树脂流阻碍部分(81、82、83、84或85),该部分提供在位于所述半导体器件的外围部分处的树脂(80)厚壁部分中。
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