[发明专利]半导体集成电路器件以及其错误检测方法无效
| 申请号： | 200410064222.6 | 申请日： | 2004-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN1591671A | 公开（公告）日： | 2005-03-09 |
| 发明（设计）人： | 圓角元洋 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G11C7/00 | 分类号： | G11C7/00;G11C29/00;G06F11/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 臧霁震 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本半导体集成电路器件包括将信息编程的可编程电路、在该可编程电路中将已编程的信息以电气方式保持的信息保持电路、将保持于该信息保持电路中的信息压缩的压缩电路、将期待值信息输出的信息输出电路、以及检测出保持于所述信息保持电路中的信息破坏的检测电路。所述检测电路将所述信息输出电路的期待值信息与所述信息压缩电路的压缩信息相比较，检测出保持于所述信息保持电路中的信息破坏。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 器件 及其 错误 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路器件，其特征在于，具有：将信息编程的可编程电路；在所述可编程电路中将已编程的信息以电气方式保持的信息保持电路；将保持于所述信息保持电路中的信息压缩的压缩电路；输出期待值信息的信息输出电路；将所述期待值信息与所述信息压缩电路的压缩信息相比较、检测出保持于所述信息保持电路中的信息破坏的检测电路。
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