[发明专利]以光微影结构化半导体基板的光罩的制造方法无效
申请号: | 03812374.6 | 申请日: | 2003-04-30 |
公开(公告)号: | CN1656423A | 公开(公告)日: | 2005-08-17 |
发明(设计)人: | O·柯奇;M·塞巴德 | 申请(专利权)人: | 因芬尼昂技术股份公司 |
主分类号: | G03F1/08 | 分类号: | G03F1/08;G03F7/40;G03F7/075;G03F7/004 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 卢新华;庞立志 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明乃涉及一种制造用于结构化半导体的光罩的方法,其中,一包括一具有含硅基团的高分子的阻剂乃被使用,而在一含氧电浆进行结构化的期间,该等硅原子会被转换成为二氧化硅,以保护配置在该二氧化硅下方的吸收剂部分不受该电浆移除的影响。 | ||
搜索关键词: | 光微影 结构 半导体 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造用于光微影的光罩的方法,其包括下列步骤:提供一透明基板;在该透明基板之上沉积一第一吸收剂材质层;将一用于电子束微影的阻剂层施加于该第一层之上,其中,该阻剂至少包括:一膜形成(film-forming)高分子,其包括硅原子;以及一溶剂;蒸发包含在该阻剂中的该溶剂,以形成一包含该膜形成高分子的第二层:藉由一已聚焦电子束而对该第二层执行写入,因而使得包括已曝光以及未曝光部分的一影像会被产生于该第二层之中;将会溶解该影像的该已曝光部分的一显影剂添加至该第二层之上,以获得具有一结构的一已结构化阻剂,而在其中,该等未曝光部分会形成岛块,而该等已曝光部分会形成配置在该等岛块之间的沟渠;以及将该已结构化阻剂的该结构转移进入该第一吸收剂材质层中。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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