[发明专利]测量眼镜片光学特性的方法和检镜仪无效
| 申请号： | 03165022.8 | 申请日： | 2003-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN1512158A | 公开（公告）日： | 2004-07-14 |
| 发明（设计）人： | 中村新一;柳英一 | 申请（专利权）人： | 拓普康株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 蒋世迅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 所公开的是一种眼镜片光学特性测量方法和一种检镜仪，其中测量光束不受镜片压紧部件干涉。一副眼镜的左右镜片在一对左右光学测量系统的光路的一些中点处由镜片支架杆点支持，一对框架夹持板从前边和后边保持住镜片的眼镜框。在这种状态下，镜片压紧部件杆将眼镜片压紧在镜片支架杆上并支撑住，由此校正被框架夹持板保持的眼镜框。校正后，镜片压紧杆从光学测量系统的测量光路中缩回，通过光学测量系统的CCD接收穿过眼镜片的镜片支架杆周围的测量光束，从而计算控制电路基于来自CCD的测量信号获得眼镜片的光学特性。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 眼镜片 光学 特性 方法 检镜仪 | ||
【主权项】：
1、一种眼镜片光学特性测量方法，包括：在一对左右光学测量系统的光路的一些中点处，用镜片支架分别点支持一副眼镜的左右眼镜片；用一对框架夹持部件从前边和后边夹持住眼镜片的眼镜框；用镜片压紧部件压紧眼镜片使其压在镜片支架上，以此来校正被框架夹持部件夹持的眼镜框的方式；从光学测量系统的光路中缩回镜片压紧部件；用光学测量系统测量镜片支架周围的传送通过眼镜片的测量光束；和用计算控制电路基于来自光学测量系统的测量信号获得眼镜片的光学特性。
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