[发明专利]半导体缓冲能力调整方法、电子系统和半导体器件无效
申请号: | 02149887.3 | 申请日: | 2002-07-05 |
公开(公告)号: | CN1427348A | 公开(公告)日: | 2003-07-02 |
发明(设计)人: | 蜂谷尚悟 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G06F13/00 | 分类号: | G06F13/00;H01L27/00;H01L21/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在存储模块(2)中安装存储用数值等表现各半导体存储器(1a-1d)特性差异的特性差异信息的ROM(5)。特性差异信息是在例如半导体器件的制造阶段测定的数据。BIOS(3)在启动时读取存储在ROM(5)中的特性差异信息,根据该特性差异信息,求出各半导体存储器的缓冲能力最佳值,通过本地总线来对存储器控制器(4)进行适当调整各半导体存储器的缓冲能力用的设定处理。存储器控制器(4)根据BIOS(3)设定的内容,向存储器模块(2)提供适合于各半导体存储器缓冲能力的信号强度的信号。 | ||
搜索关键词: | 半导体 缓冲 能力 调整 方法 电子 系统 半导体器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于:具备存储表示半导体器件缓冲能力的特性信息的存储器、和读取所述存储器中存储的所述特性信息用的端子。
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