[发明专利]简易升级型高容量式半导体晶片测试装置

摘要

一种简易升级型高容量式半导体晶片测试装置，其可用以对多个半导体晶片同时进行一测试程序。此半导体晶片测试装置的特点在于采用高容量的电可擦除可编程的只读存储器晶片来储存所有所需的测试程序。此特点可使得待测晶片于同一个测试装置上完成所有所需的测试程序，使得整体测试作业较现有技术更为有效率；并也可使得测试程序的升级更新过程较现有技术更为简易而省时省力，使得整体的晶片测试过程较现有技术更为有效率。

主权项

1.一种半导体晶片测试装置，其特征在于：其包含(a)一时钟脉冲产生器晶片，其用以产生一时钟脉冲信号；(b)一计数器晶片，其可接收该时钟脉冲信号，用以将该时钟脉冲信号转换成一程序计数信号；(c)一第一测试程序晶片，其中预存有多个测试程序，且各个测试程序受控于该计数器晶片所产生的程序计数信号而产生一组测试信号；(d)一第二测试程序晶片，其中预存有多个测试程序，且各个测试程序受控于该计数器晶片所产生的程序计数信号而产生一组测试信号；(e)一多工器晶片群组，其中包括一第一多工器晶片、一第二多工器晶片、一第三多工器晶片、和一第四多工器晶片；其中该第一多工器晶片和该第二多工器晶片共同藕接至该第一测试程序晶片，用以传送该第一测试程序晶片所产生的测试信号；而该第三多工器晶片和该第四多工器晶片共同藕接至该第二测试程序晶片，用以传送该第二测试程序晶片所产生的测试信号；(f)一测试治具群组，其中包括一第一测试治具、一第二测试治具、一第三测试治具、和一第四测试治具，分别藕接至该第一多工器晶片、该第二多工器晶片、该第三多工器晶片、和该第四多工器晶片；其中该第一测试治具、该第二测试治具、该第三测试治具、和该第四测试治具用以分别安置四个待测晶片，藉此而利用该第一测试程序晶片和该第二测试程序晶片分别通过该第一多工器晶片、该第二多工器晶片、该第三多工器晶片、和该第四多工器晶片所输出的测试信号来对该四个待测晶片进行一测试程序。