[发明专利]测量光透射率的方法及其设备无效
| 申请号： | 02107183.7 | 申请日： | 2002-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN1375690A | 公开（公告）日： | 2002-10-23 |
| 发明（设计）人： | 秋山久则;依田寿郎 | 申请（专利权）人： | 保谷株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59;G01M11/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王以平 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量光透射率的方法及其设备,能够以优良的精度对具有折射光焦度的光学透镜的光透射率实现便宜且方便测量。该测量光透射率的方法包括从与一比值对应的值中导出待检验透镜(30)的光透射率,该比值是当待检验透镜(30)置于从光源(10)所发出并到达光探测装置(50)的测量光(L)光路中从而测量光(L)通过待检验透镜(30)时由所述光探测装置(50)探测到的测量光(L)强度,与当待检验透镜(30)未置于测量光(L)光路中从而测量光(L)未通过待检验透镜(30)时由所述光探测装置(50)探测到的测量光(L)强度之比,其中测量光(L)在测量光(L)光线会聚于待检验透镜(30)所在位置处或其附近的情况下通过待检验透镜(30)。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 透射率 方法 及其 设备 | ||
【主权项】：
1.一种测量光透射率的方法，包括：从与一比值对应的值中导出待检验透镜的光透射率，该比值是当待检验透镜置于从光源所发出并到达光探测装置的测量光光路中从而测量光通过待检验透镜时由所述光探测装置探测到的测量光强度，与当待检验透镜未置于测量光光路中从而测量光未通过待检验透镜时由所述光探测装置探测到的测量光强度之比，其中测量光在测量光光线会聚于待检验透镜所在位置处或其附近的情况下通过待检验透镜。
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