[发明专利]测量光透射率的方法及其设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种根据权利要求1的较方便地测量光学透镜比如眼镜的光透射率的方法，并且涉及一种根据权利要求3的用于实施本发明方法的设备。

背景技术

在眼镜店中，作为对眼镜性能的各种检验之一，有时需要检验眼镜对于紫外光或可见光的光透射率。

作为测量光透射率的方法，已知有如下方法，其中通过在测光系统中采用积分球精确地测量光透射率，从而即使在测量光由待检验透镜发散或会聚时也可以在测量所得值中不产生误差。然而，积分球比较昂贵，从而在眼镜店中难以广泛普及积分球。

因此，此前已有提出不采用积分球而方便地测量光透射率的设备。例如，在日本专利申请公开No.平11(1999)-211617的段落[0027]中公开有根据待检验透镜的屈光度对光透射率的值加以校正的设备和方法。

图6表示上述日本专利申请公开No.平11(1999)-211617中所公开方法的原理。如图6中所示，从光源1发出的测量光L的光线由凸透镜2变为平行光，通过待检验透镜3和干涉滤光器4，由光接收元件5加以探测。

具有干涉滤光器4所限制范围中波长的光束的光透射率可以从没有待检验透镜3时光接收元件5所探测光束的强度与有待检验透镜3时光接收元件5所探测光束的强度之比方便地获得。

在上述方法中，由于测量光作为尽可能平行的光束发射至光接收元件5，所以光接收元件5对光束的探测可以保持较高的精度。因此，可以用较高的精度对光透射率进行测量。

在另一种方法中，如图7所示，去除图6中所示的凸透镜2，由小孔7限制在必需量的光束发射至待检验透镜3。在再一种方法中，如图8所示，凸透镜6设置在图7所示系统中的干涉滤光器4与光接收元件5之间，通过待检验透镜3的光束会聚并发射至光接收元件。

在测量光透射率的上述方法中，缺陷在于随着待检验透镜屈光度的增加其测量误差也增加，尽管可以方便地测量光透射率。

本发明人发现误差的增加是由于下述原因而引起。对于具有不同屈光度的透镜，在各透镜中其透镜表面前侧和后侧的曲率是不同的。根据传统的方法，通过待检验透镜的测量光光束的截面相当大。因此，表面曲率取决于光束截面中的位置而不同，对光束的折射效果随着该位置而不同。透镜的厚度也随位置而不同。另外，在具有不同屈光度的透镜中上述效果也是不同的。其结果是，在光探测器的光探测面积中，测量光入射光束的面积、位置、方向和通量都随着待检验透镜的屈光度而不同，因而可以认为由于这些影响导致光通量测量中误差的产生。

例如，当采用光探测器比如光电二极管时，光探测表面上光探测的灵敏度在整个光探测表面中并不总是均匀的。换句话说，由于在光探测表面的各位置中存在灵敏度的差别而导致所得灵敏度发生变化。当各次测量中入射光的位置发生改变，则该测量会产生误差。根据上述测量光透射率的传统方法，测量光光束的截面面积和方向随着待检验透镜的屈光度易于产生较大程度的变化。其结果是，光探测器中入射测量光的位置取决于待检验透镜的屈光度而产生较大程度的差别，从而在所得结果中产生误差。

在上述光探测器比如光电二极管中，取决于入射测量光相对于光探测表面的角度，其探测灵敏度有相当大的变化。换句话说，所得灵敏度随着光线的入射角而波动。在上述测量光透射率的传统方法中，构成测量光光束的各光线在具有不同弯曲形状的各位置之一通过待检验透镜并由之折射。另外，光束的折射程度随着待检验透镜的屈光度而变化。其结果是，测量光各光线相对于光探测器的入射角在各光线中会有不同，从而在测量中产生误差。

测量光光束由之通过的待检验透镜的整体厚度随着待检验透镜的屈光度而有不同。当测量光光束的截面面积相当大并且屈光度差别较大时，对光通量衰减的差别不能被忽略，从而在测量中产生误差。

因此，在日本专利申请公开No.平11(1999)-211617中所公开的测量光透射率的设备中，为获得待检验透镜的光透射率，必须预先获知待检验透镜的屈光度，这对测量的方便程度有显著的不利影响。

发明内容

本发明为克服上述缺点而作出，本发明的目的在于提供一种能够以优良的精度对具有折射光焦度的光学透镜的光透射率实现便宜且方便测量的方法及其所用设备。

作为实现上述目的的手段，本发明人发现：

一种测量光透射率的方法，包括从与一比值对应的值中导出待检验透镜的光透射率，该比值为当待检验透镜置于从光源所发出并到达光探测装置的测量光光路中从而测量光通过待检验透镜时由所述光探测装置探测到的测量光强度，与当待检验透镜未置于测量光光路中从而测量光未通过待检验透镜时由所述光探测装置探测到的测量光强度之比，