[实用新型]化学皮膜阻抗值检测装置无效

专利信息
申请号: 01259630.2 申请日: 2001-08-31
公开(公告)号: CN2537976Y 公开(公告)日: 2003-02-26
发明(设计)人: 彭文宏 申请(专利权)人: 神基科技股份有限公司
主分类号: G01N27/02 分类号: G01N27/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蹇炜
地址: 中国*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种化学皮膜阻抗值检测装置,适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值,包括一固定座,大约呈“冂”形,其具有一底面、一凹槽及二嵌孔,其中凹槽凹陷于固定座的底面,而嵌孔位于固定座的内部;二探针,分别嵌入对应的嵌孔,并分别具有一探测端及一传输端,其中两探测端大约与底面对齐,并因凹槽而裸露于外,在检测时,这些探测端分别与化学皮膜层的表面的两点相接触;以及一电阻计,其分别与对应的探针的传输端电连接,用以检测化学皮膜层的上述两点间的电阻抗值。
搜索关键词: 化学 皮膜 阻抗 检测 装置
【主权项】:
1.一种化学皮膜阻抗值检测装置,适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值,至少包括:一固定座,大约呈“”形,其具有一底面、一凹槽及二嵌孔,其中该凹槽凹陷于该固定座的该底面,而所述嵌孔位于该固定座的内部;二探针,分别嵌入对应的这些嵌孔,这些探针分别具有一探测端及一传输端,其中所述探测端大约与所述底面对齐,并因所述凹槽而裸露于外,在检测时,该探测端分别与该化学皮膜层的表面的两点相接触;以及一电阻计,其分别与对应的这些探针的所述传输端电连接,用以检测该化学皮膜层的所述两点间的电阻抗值。
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