[实用新型]化学皮膜阻抗值检测装置

说明书

技术领域

一种化学皮膜阻抗值检测装置，适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值，其中，该化学皮膜层形成于一电子产品外壳的表面。

背景技术

近年来，随着电子产业的高速发展，为适应电子产品日益轻、薄、短、小的趋势，电子产品的外壳逐渐选用轻量化、高强度的合金材料来制造。然而，以笔记本电脑为例，外界不明的电磁波会干扰电脑内部传送的信号的频率或振幅，因而影响电脑内部的运作，产生电磁干扰(Electro-Magnetic Interference，EMI)。因此，选择具有高电磁屏蔽性的金属，作为笔记本电脑外壳的材料，可借助于金属的屏蔽作用，即电磁屏蔽的能力，使得电脑内部传送的信号，不受外界不明电磁波的干扰。

铝镁合金具有质轻、强度高、耐冲击、耐磨耗的优点，并结合其优良的散热性及良好的电磁屏蔽性，使得铝镁合金大量应用在笔记本电脑、移动电话、个人数字助理(PDA)及各种数据储存系统等等的电子产品外壳的材质上。由于铝镁合金是一种高活性金属，在成形并经过加工之后，必须进行表面处理，才能使成品具有耐蚀及美观的表面，而表面处理中最重要的是化学皮膜处理。其中，化学皮膜处理是在铝镁合金成品的表面上，形成一化学皮膜层，其材质例如为铬酸盐或镍磷合金，用以增加表面的耐腐蚀性与耐摩擦性。此外，可通过渗透作用，将有机或无机染料渗入皮膜的毛细孔内，形成有颜色的成品。或以电镀的方式，将二硫化铝(MoS₂)或铁氟龙(PTFE)填入皮膜的毛细孔内，以增加表面的润滑性。

由于铝镁合金已广泛应用于电子产品的外壳材料，例如笔记本电脑外壳、手机外壳。然而，以铝镁合金制作成电子产品的外壳时，在外壳表面的化学皮膜层的组成均匀度及厚度，除了影响铝镁合金表面的耐腐蚀性之外，对于铝镁含金外壳的电磁屏蔽能力，具有绝对性的影响。因此，当铝镁合金外壳表面在经过化学皮膜处理之后，必须对化学皮膜层进行电阻抗值的测试，进而控制及改善化学皮膜层的品质。

一般量测铝镁合金外壳上的化学皮膜层的电阻抗值的方法，是借助于量测工具，其包括两根金属探针、一个微欧姆计及两条连接探针与微欧姆计的金属导线，以人工操作的方式，将两根金属探针的针头同时接触待测表面，即化学皮膜层的表面，并同时量取一段固定距离，透过微欧姆计所量测出的电阻抗值，以判断化学皮膜层表面的固定距离间的电阻抗值是否符合在标准电阻值以下。然而，此种量测的方式，具有下列缺点：

1.当探针的针头接触待测表面时，量测者不易控制针头与待测表面之间的接触压力，使得量测出的电阻抗值与真实的电阻抗值差异甚大。

2.当量测待测表面上某一段固定距离之间的电阻抗值，并判断是否在标准值以下时，是通过人工的操作来量取此段固定距离，因此将会有较大的误差出现，若量取的距离大于或小于此固定距离，将使得适用于此固定距离的标准电阻值，不再适用于此段误差距离所产生的电阻值。

发明内容

本实用新型的目的在于提出一种化学皮膜阻抗值检测装置，用以量测一铝镁合金外壳上的化学皮膜层、其表面的电阻抗值的大小及状态，以确保此量测的电阻抗值不受人为因素的影响。

根据本实用新型的上述及其他目的，本实用新型提出一种化学皮膜阻抗值检测装置，适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值，其至少包括：一固定座，大约呈“”形，其具有一底面、一凹槽及二嵌孔，其中凹槽为凹陷于固定座的底面，而这些嵌孔则位于固定座的内部；二探针，分别嵌入对应的嵌孔，并分别具有一探测端及一传输端，其中这些探测端大约与固定座的底面对齐，并由于凹槽而裸露于外，在检测时，这些探测端分别与化学皮膜层的表面的两点相接触；以及一电阻计，其分别与对应的探针的传输端电连接，用以检测化学皮膜层的上述两点间的电阻抗值。

根据本实用新型的上述及其他目的，本实用新型提出一种化学皮膜阻抗值检测装置，适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值，至少包括：一固定座，具有一底面及二嵌孔，其中这些嵌孔位于固定座的内部；二探针，分别嵌入对应的嵌孔，这些探针分别具有一探测端及一传输端，其中这些探测端大约与固定座的底面对齐，在检测时，这些探测端分别与化学皮膜层的表面的两点相接触：以及一电阻计，其分别与对应的探针的传输端电连接，用以检测化学皮膜层的上述两点间的电阻抗值。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图示，进行详细说明。