[发明专利]用于有机蚀刻的侧壁钝化的方法和装置无效

专利信息
申请号: 00809598.1 申请日: 2000-06-14
公开(公告)号: CN1358325A 公开(公告)日: 2002-07-10
发明(设计)人: 聂图强;南希·特兰 申请(专利权)人: 拉姆研究公司
主分类号: H01L21/311 分类号: H01L21/311
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 崔晓光
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用以蚀刻位于一半导体器件上的一有机低介电常数绝缘层的强韧方法,如文中所揭示的,其包含在一处理室中引入一衬底,衬底上具有一有机绝缘层和一上覆的掩模层,且掩模层上有一孔洞。然后在处理室中由一氧化气体和一钝化气体生成一等离子体。钝化气体优选是一含有硅的气体或一含有硼的气体或两种气体合用。氧化气体与钝化气体的优选比率是10∶1。此外,也可提供一惰性载气。等离子体是用以通过掩模层蚀刻有机绝缘层,由此在有机低介电常数绝缘层中形成具有实质上呈垂直的侧壁的通孔。
搜索关键词: 用于 有机 蚀刻 侧壁 钝化 方法 装置
【主权项】:
1.一种通过一掩模层中的一孔洞各向异性地蚀刻一有机绝缘层的方法,包含:在一处理室中导入一衬底,该衬底上具有一有机绝缘层和一上覆的掩模层,且该掩模层上有一孔洞;以及在所述的处理室中产生一等离子体,该等离子体的成分来自一氧化气体和一钝化气体,其中该钝化气体来自实质上由含硅的气体和含硼的气体组成的组,其中所述氧化气体与所述钝化气体的比率至少是10∶1,如此可通过所述掩模层上的所述孔洞蚀刻所述有机绝缘层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于拉姆研究公司,未经拉姆研究公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00809598.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top