[发明专利]用X射线辐射获取物体内部结构图像的方法及其实施设备无效

专利信息
申请号: 00806092.4 申请日: 2000-05-30
公开(公告)号: CN1346438A 公开(公告)日: 2002-04-24
发明(设计)人: 姆拉丁·阿布比奇罗维奇·库马科夫 申请(专利权)人: 姆拉丁·阿布比奇罗维奇·库马科夫
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 李玲
地址: 俄罗斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于获得物体,尤其是生物体的以视觉感受形式呈现的内部结构图像的装置。根据本发明方法,由源发射的X射线辐射被集中(例如借助于X射线透镜(2))在包含物体(5)被研究区(7)内的当前测量结果所参考的点(4)的区域中。在所述区域中出现的二次辐射(康普顿,荧光辐射)被运送给(例如借助于X射线透镜(3))一个或多个检测器(6)。通过移动所述区域可对物体(5)的被研究区(7)进行扫描。物体在该点的密度是通过对从一个或多个检测器(6)接收的二次辐射强度值求总和确定的,同时用该点(4)的坐标确定。在数据处理与成像设施(12)中使用借助于传感器(11)获得的密度值和相应坐标值来产生物体被研究区中物质的密度分布图像。
搜索关键词: 射线 辐射 获取 物体 内部结构 图像 方法 及其 实施 设备
【主权项】:
1、一种在用X射线照射物体时用X射线形成该物体内部结构图像的方法,用一个或多个辐射检测器的输出信号来得到有关该物体物质密度的信息,其中将X射线集中在被研究物体(5)区(7)内的某一区域;所述区域包括当前测量结果所参照的点(4);将在所述区域内产生的二次辐射导向一个或多个检测器(6)。通过移动所述区域,对所述被研究物体(5)区(7)进行扫描;物体在所述点的物质密度以一个或多个检测器(6)获得的一组二次辐射强度值测定,同时用X射线辐射集中区内当前测量结果所参照的所述点(4)的坐标确定;根据密度值和相应的坐标值,重建所述被研究物体(5)区(7)的物质密度的分布图案。
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