[发明专利]一种椭圆偏振术检测DNA芯片杂交的方法及其装置

摘要

本发明是一种椭圆偏振术检测DNA芯片杂交效率的方法及其装置。现有技术的检测方法多是将探针固定在基片上，去检测标记过的样品，这样的检测需要时间的等待，而且检测信号会随标记物信号的衰减而失去准确性。本发明用椭圆偏振仪检测DNA芯片杂交效率，通过生物分子本身的光学性质，测得其椭圆偏振参数ψ、Δ，定义与探针完全匹配的样品和只有探针存在时的芯片杂交效率分别为极大值和极小值，从而获得待测样品的杂交效率。本发明装置简捷，测量快速准确。

主权项

1.一种椭圆偏振术检测DNA芯片杂交的方法，椭偏光谱测量中两个椭偏参量是Ψ和Δ：ρ＝Rp/Rs＝(rp/rs)exp[i(δp-δs)]＝tanΨexp(iΔ)，式中ρ为膜层的复反射比，Rp和Rs分别为光束倾斜入射时，p偏振光和s偏振光的复反射率，tanΨ和Δ分别表示p偏振光和s偏振光的振幅比和相位差，由上式可得下式： tanΨ＝rp/rs Δ＝δp-δs选择λ＝450-550nm范围测量，定义完全匹配的样品杂交效率是100％，没有进行杂交反应的探针的杂交效率是零，则杂交效率η＝|Ψ样品-ΨB|/|ΨA-ΨB|，其中Ψ样品是待测样品杂交后的Ψ测量值，ΨA是完全匹配序列杂交后的Ψ测量值，ΨB是没有进行杂交反应的探针的Ψ测量值，若用Δ来计算，方法相同；检测步骤如下：同样入射角下，选择三个样品，样品A和探针的序列完全匹配，定义其杂交效率ηA定义为100％，样品B是无杂交反应的探针，定义其杂交效率ηB定义为零，样品C是待检测样品，其杂交效率是ηC，则ηC＝|ΨC-ΨB|/|ΨA-ΨB|，其中ΨC是待测样品C杂交后的Ψ测量值，ΨA是样品A杂交后的Ψ测量值，ΨB是样品B的Ψ测量值，利用450-550nm范围内某个波长，测量得ΨA、ΨB、ΨC，从而得到ηc值。