专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种LED及其制备方法-CN201410038456.7在审
  • 裴小明;曹宇星 - 上海瑞丰光电子有限公司
  • 2014-01-26 - 2014-06-11 - H01L33/48
  • 本发明适用于LED技术领域,提供了一种LED及其制备方法,所述LED包括水平结构倒装晶片(覆晶晶片)和用以围覆所述水平结构倒装晶片的透明封装胶,位于所述水平结构倒装晶片各侧面的透明封装胶厚度均匀、一致。此处用透明胶围覆水平结构倒装晶片,并使位于所述水平结构倒装晶片各侧面的透明胶厚度均匀、一致,如此形成的LED可直接焊接于应用端,无需常规的LED支架封装,应用工艺简单,无封装层面的热阻和可靠性,极大地降低了LED产品的制备成本,提升LED的可靠性,且结构简单。
  • 一种led及其制备方法
  • [发明专利]一种图像传感器的圆片级封装方法及封装结构-CN201210517170.8在审
  • 叶交托;罗乐;徐高卫;王双福 - 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 2012-12-05 - 2014-06-11 - H01L27/146
  • 本发明提供一种图像传感器的圆片级封装方法及封装结构,该封装方法包括:在一传感晶片的有源面形成第一钝化层;在第一钝化层上沉积至少1个金属煽出电极;将传感晶片的有源面与一透明基板键合;在传感晶片的背面沉积第二钝化层,并在第二钝化层上刻出划槽标记;在划槽标记处制作凹槽;在传感晶片背面制作第三钝化层;在凹槽底制作贯通金属煽出电极的通孔;制作金属互连线使其通过通孔将金属煽出电极引出至第三钝化层的背面;制作完全覆盖金属互连线的第四钝化层;在第四钝化层刻蚀开口露出金属互连线的一端;在第四钝化层上制作UBM层和焊锡凸点。本发明可靠性强、成本低、具有较小的信号延迟和较高的互连密度。
  • 一种图像传感器圆片级封装方法结构
  • [发明专利]FinFET及其制造方法-CN201210506189.2在审
  • 朱慧珑;许淼 - 中国科学院微电子研究所
  • 2012-11-30 - 2014-06-11 - H01L21/336
  • 公开了一种FinFET及其制造方法。制造FinFET的方法包括:图案化半导体衬底以形成脊状物;进行离子注入,使得在脊状物中形成掺杂穿通阻止层,并且半导体衬底位于掺杂穿通阻止层上方的部分形成半导体鳍片;形成与半导体鳍片相交的栅堆叠,该栅堆叠包括栅极电介质和栅极导体,并且栅电介质将栅极导体和半导体鳍片隔开;形成围绕栅极导体的栅极侧墙;以及在半导体鳍片位于栅堆叠两侧的部分中形成源区和漏区。掺杂穿通阻止层将半导体鳍片和半导体衬底隔开,从而可以断开源区和漏区之间经由半导体衬底的漏电流路径。
  • finfet及其制造方法
  • [发明专利]晶体管及其制造方法-CN201210514533.2在审
  • 肖德元 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2012-12-04 - 2014-06-11 - H01L21/335
  • 本发明提供一种晶体管及其制造方法,所述制造方法包括:在基底上形成量子阱层、势垒层;形成用于隔离不同的晶体管区域的隔离结构;图形化晶体管区域的势垒层、量子阱层,保留对应栅极区域的势垒层、量子阱层,去除对应源极区域、漏极区域的势垒层、量子阱层,从而形成沟槽;向沟槽中填充掺杂的半导体材料,以形成源极和漏极;在栅极区域的量子阱层上形成栅极结构。晶体管包括:基底,基底上形成有用于隔离不同晶体管区域的隔离结构;晶体管区域包括依次位于基底上的量子阱层、势垒层;位于势垒层上的栅极结构;位于栅极结构两侧基底上且与量子阱层、势垒层相接触的源极和漏极。本发明可以提高晶体管的电子迁移率。
  • 晶体管及其制造方法
  • [发明专利]漏斗型特大硅穿孔的制作方法-CN201210510459.7在审
  • 吴智勇;袁苑 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2012-12-03 - 2014-06-11 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种漏斗型特大硅穿孔的制作方法,步骤包括:1)在硅基板背面淀积二氧化硅刻蚀停止层;2)在硅基板正面淀积二氧化硅硬掩膜;3)光刻和二氧化硅硬掩膜干法刻蚀定义硅穿孔图形;4)间歇式干法刻蚀出硅通道;5)高能量各向同性干法刻蚀,形成漏斗形硅穿孔;6)低能量各向同性干法刻蚀;7)去除各刻蚀步骤形成的聚合物;8)湿法去除二氧化硅。本发明利用高精度的半导体工艺刻穿硅基板,形成硅片正面为漏斗形状的圆孔,作为光纤对准基座阵列,由于圆孔正面为较大的喇叭口,从而方便了光纤插入硅通道;同时,喇叭口交接处较圆滑,光纤插入时不容易折断,这样不仅提高了对准的精度和良率,还简化了制作工艺流程,降低了成本。
  • 漏斗特大穿孔制作方法
  • [发明专利]一种CT和MR异机三维图像融合的配准方法及系统-CN201210493464.1在审
  • 彭鳒侨;卢伟杰 - 广州医学院第一附属医院
  • 2012-11-28 - 2014-06-11 - G06T7/00
  • 本发明公开了一种CT和MR异机三维图像融合的配准方法,包括:将获取的CT图像、与CT图像相匹配的MR图像进行二维图像定位配准,所述二维图像定位配准是通过在CT图像和MR图像上分别选取3个特征面和9个特征点,使CT图像和MR图像在空间上点面对应;将经过二维图像定位配准的CT图像和MR图像进行图像融合、重建,得到CT和MR异机三维融合图像。本发明还公开了一种相应的配准系统。采用本发明,输入CT/MR原始数据后采用数字化格式转换,通过“3面9点”立体对位法进行配准,在实时工作站Mimics按照信息交互自动融合模式,通过讯号叠加技术完成图像融合,实现CT和MR异机三维图像的精确融合。
  • 一种ctmr三维图像融合方法系统

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