专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]显示设备-CN202180041112.X在审
  • 崔在仁;J·M·约翰逊;L·王;B-L·尚;唐海榕;S·E·莫勒萨;康盛球;Y·C·杨 - 苹果公司
  • 2021-05-25 - 2023-02-14 - H01L33/58
  • 为了从发光二极管提取光(并从而提高显示器的效率),可以在该发光二极管上方形成微透镜堆叠。该微透镜堆叠可以包括由附加的单个微透镜覆盖的微透镜阵列。以该方式堆叠微透镜提高了透镜光学能力,而不增加该显示器的厚度。该微透镜阵列可以由无机材料形成,而该附加的单个微透镜可以由有机材料形成。该附加的单个微透镜可以适形于该微透镜阵列的上表面。可以在该发光二极管与该微透镜阵列之间插置附加的低折射率层。可以在该发光二极管周围形成扩散层,以捕集从发光二极管侧壁发出的光。
  • 显示设备
  • [发明专利]存储器装置随机选项反转-CN202110539166.0有效
  • K·G·韦哈恩;J·M·约翰逊;藤原敬典;T·Z·詹森;D·S·米勒;D·E·杰斐逊;V·科蒂 - 美光科技公司
  • 2021-05-18 - 2023-01-03 - G11C29/02
  • 本申请案涉及存储器装置随机选项反转。描述用于存储器装置随机选项反转的方法、系统及装置。存储器装置可使用第二组熔丝来选择性地反转与第一组熔丝(例如,熔断熔丝)相关联的选项。第一组熔丝可输出第一组逻辑状态。选项反转逻辑电路系统可基于由所述第二组熔丝输出的第二组逻辑状态来执行解码,以识别与所述第一组逻辑状态匹配的所述第二组逻辑状态中的逻辑状态。基于识别所述逻辑状态,所述选项反转逻辑电路系统可选择所述第一组逻辑状态中的逻辑状态或对应于所述逻辑状态的经反转逻辑状态,及将所述所选择逻辑状态存储在所述存储器装置的锁存器中。
  • 存储器装置随机选项反转
  • [发明专利]用于错误校正的设备、系统和方法-CN202210896329.5在审
  • 藤原敬典;V·科蒂;C·G·维杜威特;J·M·约翰逊;K·G·韦哈恩 - 美光科技公司
  • 2020-12-21 - 2022-11-22 - G06F11/10
  • 本发明描述了用于错误校正的设备、系统和方法。存储器装置可具有若干存储器单元,所述存储器单元中的每一者存储信息位。可使用一或多个错误校正码(ECC)来确定所述信息位是否含有任何错误。为减轻邻近存储器单元的故障的影响,可将信息分成第一群组和第二群组,其中每一群组含有来自不邻近于所述群组的其它存储器单元的存储器单元的信息。每一信息群组可包含数据位和用于校正那些数据位的奇偶校验位。举例来说,作为读取操作的部分,第一ECC电路可从偶数编号的存储器单元接收信息,同时第二ECC电路可从奇数编号的存储器单元接收信息。
  • 用于错误校正设备系统方法
  • [发明专利]用于错误校正的设备、系统和方法-CN202080091729.8在审
  • 藤原敬典;V·科蒂;C·G·维杜威特;J·M·约翰逊;K·G·韦哈恩 - 美光科技公司
  • 2020-12-21 - 2022-08-19 - G11C29/42
  • 本发明描述了用于错误校正的设备、系统和方法。存储器装置可具有若干存储器7单元,所述存储器单元中的每一者存储信息位。可使用一或多个错误校正码(ECC)来确定所述信息位是否含有任何错误。为减轻邻近存储器单元的故障的影响,可将信息分成第一群组和第二群组,其中每一群组含有来自不邻近于所述群组的其它存储器单元的存储器单元的信息。每一信息群组可包含数据位和用于校正那些数据位的奇偶校验位。举例来说,作为读取操作的部分,第一ECC电路可从偶数编号的存储器单元接收信息,同时第二ECC电路可从奇数编号的存储器单元接收信息。
  • 用于错误校正设备系统方法
  • [发明专利]带对准确认的液体输送盖-CN202080056655.4在审
  • A·J·利文斯顿;G·克罗索尔;J·M·约翰逊 - 培询兹培定有限公司
  • 2020-06-19 - 2022-03-18 - A61M5/32
  • 一种用于液体输送装置(200)的盖装置(100),当所述液体输送装置被插入到所述盖装置并相对于所述盖装置旋转时,所述盖装置操作以检测所述液体输送装置相对于所述盖装置的位置。所述盖装置包括一个或多个传感器(120),所述一个或多个传感器被配置成检测所述液体输送装置相对于所述盖装置的位置。可以使用所述液体输送装置的位置来确定所述液体输送装置是否被插入且布置在相对于所述盖装置的适当轴向和/或径向位置,使得所述盖装置能够准确地检测所述液体输送装置的状态。
  • 对准确认液体输送
  • [发明专利]无限触及数位板-CN201980068184.6在审
  • J·M·约翰逊 - J·M·约翰逊
  • 2019-10-18 - 2022-02-25 - G06F3/01
  • 无限触及数位板包括计算机外围设备,两个或更多个互联网用户可以通过各自的数位板,通过发送3D手印进行物理连接,将3D手印制作到每个数位板的表面按钮阵列中,以在远程接收者的数位板按钮阵列上形成手的互反形状,当远程用户将手按入数位板的表面按钮阵列时,该按钮阵列会上升。数位板是装有聚合物按钮阵列的设备,其中每个按钮包括两个聚合物弹簧,每个按钮一个形状记忆合金弹簧,每个按钮一个电开关以及两个电路板,电路板对每个用户按下设备的表面按钮阵列所产生的上下按钮移动做出反应并发出信号。该设备允许数位板的远距离用户通过数位板的表面阵列按钮的上升和下降来远程感受和分享人类触摸的特异反应性。
  • 无限触及数位
  • [发明专利]对微电子装置测试数据的编码及其相关方法、装置和系统-CN202110847712.7在审
  • J·M·约翰逊 - 美光科技公司
  • 2021-07-27 - 2022-02-22 - G11C29/42
  • 公开了对微电子装置的测试数据进行编码以及相关方法、装置和系统。一种存储器装置可以包含多个列平面和至少一个电路。所述至少一个电路可以被配置成接收针对所述存储器装置的所述多个列平面中的每个列平面的列地址的测试结果数据。所述至少一个电路还可以被配置成响应于所述多个列平面的多个位中的仅一个位未通过针对所述列地址的测试而将所述测试结果数据转换为第一结果。进一步地,所述至少一个电路可以被配置成响应于仅一个列平面未通过针对所述列地址的所述测试并且所述一个列平面的多于一个位有缺陷而将所述测试结果数据转换为第二结果。
  • 微电子装置测试数据编码及其相关方法系统
  • [发明专利]存储器装置测试及相关联的方法、装置和系统-CN202110647130.4在审
  • J·M·约翰逊;D·G·蒙蒂尔斯 - 美光科技公司
  • 2021-06-10 - 2022-01-04 - G11C29/26
  • 本发明公开了存储器装置测试以及相关联的方法、装置和系统。一种方法可以包含从所述存储器装置的存储器阵列的多个存储器地址中读取,并将所述多个地址中的每个存储器地址标识为通过或未通过。所述方法可以进一步包含对于每个标识的未通过,将与所述标识的未通过相关联的数据存储在所述存储器装置的缓冲器中。此外,所述方法可以包含将与每个标识的未通过相关联的数据中的至少一些数据传送到所述存储器装置外部的测试器,而不将与每个标识的通过相关联的地址数据传送到所述测试器。
  • 存储器装置测试相关方法系统
  • [发明专利]互连的命令/地址资源-CN202110291571.5在审
  • J·M·约翰逊;藤原敬典;K·G·韦哈恩 - 美光科技公司
  • 2021-03-18 - 2021-10-01 - G11C29/00
  • 本申请案是针对互连的命令/地址CA资源。晶片的CA焊盘可与所述晶片的逻辑电路耦合,以支持测试信号在所述晶片的不同存储器裸片之间的发射。第一存储器裸片的CA焊盘可与所述晶片的切割区域中的中继器电路耦合,且所述中继器电路可与所述切割区域中的对应控制电路耦合。这些电路可支持信号从探针卡到所述晶片的一或多个其它存储器裸片的一或多个其它CA导电路径的中继。所述中继器电路可从可接收来自所述探针卡的测试信号的所述CA焊盘接收所述测试信号,且可基于所述控制电路的配置将所述测试信号发射到另一存储器裸片的另一CA焊盘。
  • 互连命令地址资源

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