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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]样本的模拟图像的确定-CN202110897385.6在审
  • I·皮莱格 - 应用材料以色列公司
  • 2021-08-05 - 2022-03-22 - G06T7/00
  • 提供了一种检验半导体样本的系统，所述系统包括处理器和存储器电路系统，所述处理器和存储器电路系统被配置为：获得训练样品，所述训练样品包括半导体样本的图像和基于设计数据的设计图像；训练机器学习模块，其中所述训练包括最小化代表由所述机器学习模块基于给定设计图像来生成的模拟图像与对应于在根据给定位移矩阵校正给定图像的像素位置之后的所述给定图像的校正图像之间的差异的函数，其中所述最小化包括优化所述机器学习模块的和所述给定位移矩阵的参数，其中所训练的机器学习模块可用于基于样本的设计图像来生成所述样本的模拟图像。
  • 样本模拟图像确定
  • [发明专利]使用弱标记检测半导体试样中的缺陷-CN202110455269.9在审
  • I·皮莱格;R·施莱恩;B·科恩 - 应用材料以色列公司
  • 2021-04-26 - 2021-12-07 - G06T7/00
  • 公开了使用弱标记检测半导体试样中的缺陷。公开了一种对半导体试样上的感兴趣图案(POI)进行分类的系统，所述系统包括处理器和存储器电路，所述处理器和存储器电路被配置为：获得所述POI的高分辨率图像，并且根据缺陷相关分类生成可用于对所述POI进行分类的数据，其中所述生成利用已经根据训练样本训练的机器学习模型，所述训练样本包括：高分辨率训练图像，所述高分辨率训练图像是通过扫描试样上的相应训练图案捕获的，所述相应训练图案与所述POI相似；以及标签，所述标签与所述图像相关联，所述标签是所述相应训练图案的低分辨率检视的衍生物。
  • 使用标记检测半导体试样中的缺陷
  •  1 
  • 共 3 条
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