专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于RX和TX的CAN总线控制器测试方法-CN201911260122.3有效
  • 杨超;马成英;张金凤;孟庆伟;唐金慧;谢向桅;刘玏 - 北京振兴计量测试研究所
  • 2019-12-10 - 2023-04-18 - G06F11/22
  • 本发明涉及一种基于RX和TX的CAN总线控制器测试方法,属于电子元器件检测技术领域,解决了现有技术中缺少能够实现较为全面的CAN总线控制器测试的问题。基于RX和TX的CAN总线控制器测试方法,所述方法包括以下步骤:获取当前测试模式并进入相应的工作模式;所述当前测试模式为报文发送测试模式、报文接收测试模式、睡眠测试模式、发送错误验证测试模式、接收错误验证测试模式或节点关闭测试模式;通过CAN总线控制器RX端构建对应该工作模式的CAN总线环境,在所述对应该工作模式的CAN总线环境下进行对所述CAN总线控制器在相应工作模式下的测试。该方法充分利用CAN总线控制器的RX端,为芯片营造CAN真实工作环境,以完成对芯片相应功能的测试。
  • 一种基于rxtxcan总线控制器测试方法
  • [发明专利]一种基于ATE的DSP芯片测试系统-CN202110960315.0在审
  • 马成英;李智;谢向桅;杨超;张金凤 - 北京振兴计量测试研究所
  • 2021-08-20 - 2023-04-07 - G05B23/02
  • 本发明涉及一种基于ATE的DSP芯片测试系统,属于电子元器件检测技术领域,解决了现有测试系统无法满足高性能DSP测试需求的问题。测试系统包括:配置程序编写模块,用于编写适配待测DSP芯片的测试项目的DSP配置程序;DSP配置程序包括与每一测试项目对应的测试配置子程序;所述DSP配置程序用于对待测DSP芯片进行上电配置;ATE测试设备,包括:指令存储模块,用于存储每一测试项目对应的GPIO测试交互指令;测试控制模块,用于将测试项目对应的GPIO测试交互指令发送至待测DSP芯片,以便待测DSP芯片基于接收到的GPIO测试交互指令,运行所述测试项目对应的测试配置子程序,并输出测试观测信号;测试分析模块,用于基于测试观测信号判断测试项目是否测试通过。
  • 一种基于atedsp芯片测试系统
  • [发明专利]x射线能谱探测器的能量解析方法-CN201811401174.3有效
  • 史再峰;谢向桅;曹清洁;黄泳嘉;胡起星 - 天津大学
  • 2018-11-22 - 2022-11-04 - G01T1/36
  • 本发明涉及计算机断层成像领域,为减少解析过程中的散射噪声误差,保证所选用的能量窗口的解析结果的可靠性,消除解析过程中的统计误差、随机噪声(泊松噪声)误差,以及因为平均能量选取不当而造成的误差,为临床应用中提供高质量,高对比度,低噪声的图像。为此,本发明采取的技术方案是,x射线能谱探测器的能量解析方法,包括两个部分:第一部分:面向边缘入射型层析式能谱探测器的能量积淀系数模拟;第二部分:动态调整探测器分组的可重构能量解析。本发明主要应用于计算机断层成像场合。
  • 射线探测器能量解析方法
  • [发明专利]一种CAN总线控制器测试方法-CN201911258666.6有效
  • 杨超;马成英;张金凤;孟庆伟;唐金慧;谢向桅;刘玏 - 北京振兴计量测试研究所
  • 2019-12-10 - 2021-02-26 - G05B19/042
  • 本发明涉及一种CAN总线控制器测试方法,属于电子元器件检测技术领域,解决了现有技术中缺少能够实现较为全面的CAN总线控制器测试的问题。CAN总线控制器测试方法,所述方法包括以下步骤:获取当前测试模式并进入相应的工作模式;所述当前测试模式为报文发送测试模式、报文接收测试模式、睡眠测试模式、滤波测试模式、仲裁失效测试模式;通过CAN总线控制器RX端构建对应该工作模式的CAN总线环境,在所述对应该工作模式的CAN总线环境下进行对所述CAN总线控制器在相应工作模式下的测试。该方法充分利用CAN总线控制器的RX端,为芯片营造CAN真实工作环境,以完成对芯片相应功能的测试。
  • 一种can总线控制器测试方法
  • [发明专利]面向医用CT的重构解析X射线能谱的方法-CN201610770474.3有效
  • 史再峰;孟庆振;谢向桅;曹清洁;张嘉平 - 天津大学
  • 2016-08-30 - 2019-02-22 - G01T1/36
  • 本发明主要涉及半导体光电探测及X射线能谱解析领域,为解决现有的能谱解析计算方法主要是通过光电流脉冲的幅值确定X射线光强(光子数)信息,解析结果受射束硬化或电荷堆叠等影响严重,提供一种高精度的重构求解X射线能谱的方法。本发明采用的技术方案是,面向医用CT的重构解析X射线能谱的方法,利用不同厚度的半导体内的光生电荷总数递推得到入射光子数,并根据预设方案调整能谱分段区间及半导体分段区间来重构方程组,进而解析获得多个连续的不同能量段的X射线透过人体后衰减信息。本发明主要应用于半导体光电探测及X射线能谱解析相关设备设计制造场合。
  • 面向医用ct解析射线方法
  • [实用新型]一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器-CN201621060663.3有效
  • 史再峰;孟庆振;高阳;谢向桅;王晶波 - 天津大学
  • 2016-09-18 - 2017-09-29 - A61B6/00
  • 一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器,本征半导体敏感区的一侧表面通过重掺杂形成P型区,另一侧表面通过重掺杂形成N型区,P型区远离本征半导体敏感区一侧的表面上设置有背面电极,本征半导体敏感区和N型区部分采用浅沟槽隔离结构被隔离为具有2个以上的像素单元的结构,每一个像素单元的N型区远离本征半导体敏感区一侧的表面上由上至下设置有长度依次递增的第一正面电极、第二正面电极和第三正面电极,每一个像素单元的正面电极分别各依次通过一个整形滤波器和一个电荷积分器共同连接本像素单元中的集成电路处理器,每一个像素单元的上端表面构成X射线的入射面。本实用新型降低了扫描时间和射线剂量,提高了时间和空间的分辨率。
  • 一种电极能量积分射线探测器
  • [发明专利]一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器-CN201610828290.8在审
  • 史再峰;孟庆振;高阳;谢向桅;王晶波 - 天津大学
  • 2016-09-18 - 2017-03-15 - A61B6/00
  • 一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器,本征半导体敏感区的一侧表面通过重掺杂形成P型区,另一侧表面通过重掺杂形成N型区,P型区远离本征半导体敏感区一侧的表面上设置有背面电极,本征半导体敏感区和N型区部分采用浅沟槽隔离结构被隔离为具有2个以上的像素单元的结构,每一个像素单元的N型区远离本征半导体敏感区一侧的表面上由上至下设置有长度依次递增的第一正面电极、第二正面电极和第三正面电极,每一个像素单元的正面电极分别各依次通过一个整形滤波器和一个电荷积分器共同连接本像素单元中的集成电路处理器,每一个像素单元的上端表面构成X射线的入射面。本发明降低了扫描时间和射线剂量,提高了时间和空间的分辨率。
  • 一种电极能量积分射线探测器

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